[实用新型]同步精度平行标定方法使用的超导全张量磁梯度测控装置有效

专利信息
申请号: 201420769999.1 申请日: 2014-12-08
公开(公告)号: CN204286459U 公开(公告)日: 2015-04-22
发明(设计)人: 伍俊;荣亮亮;邱隆清;孔祥燕;谢晓明 申请(专利权)人: 中国科学院上海微系统与信息技术研究所
主分类号: G01C25/00 分类号: G01C25/00
代理公司: 上海智信专利代理有限公司 31002 代理人: 潘振甦
地址: 200050 *** 国省代码: 上海;31
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 实用新型涉及一种同步精度平行标定方法使用的超导全张量磁梯度测控装置,所述的装置由CompactRIO控制器NI CRIO 9025(1)、CompactRIO可重配置机箱NI CRIO 9118(2)、Delta-Sigma型ADC NI 9239A(3)、Delta-Sigma型ADC NI 9239B(4)、Delta-Sigma型ADC NI 9239C(5)、数字IO模块NI 9402(6)、GPS组合惯导SPAN LCI(7)、工作环境监测组件(8)、SQUID读出电路(9)以及串口通讯模块NI 9871(10)组成。并在此基础上增加函数发生器33622A(11)、高速示波器DSO9404A(12)和测试信号驱动电路(13)通过线缆连接对应的信号接口;所述的装置具有实现简单可操作性强,对成功研制超导全张量磁梯度测控装置意义重大。
搜索关键词: 同步 精度 平行 标定 方法 使用 超导 张量 梯度 测控 装置
【主权项】:
一种同步精度的平行标定方法使用的超导全张量磁梯度测控装置,其特征在于:①所涉及的超导全张量磁梯度测控装置主要由CompactRIO控制器NI CRIO 9025(1)、CompactRIO可重配置机箱NI CRIO 9118(2)、Delta‑Sigma型ADC NI 9239A(3)、Delta‑Sigma型ADC NI 9239B(4)、Delta‑Sigma型ADC NI 9239C(5)、数字IO模块NI 9402(6)、GPS组合惯导SPAN LCI(7)、工作环境监测组件(8)、SQUID读出电路(9)以及串口通讯模块NI 9871(10)组成;其中,Delta‑Sigma型ADC NI 9239A(3)、Delta‑Sigma型ADC NI 9239B(4)、Delta‑Sigma型ADC NI 9239C(5)、串口通讯模块NI 9871(10)以及数字IO模块NI 9402(6)均是National Instruments公司标准的C系列模块,插入CompactRIO可重配置机箱NI CRIO 9118(2)对应的槽位中,并与CompactRIO控制器NI CRIO 9025(1)一起构成完整的CompactRIO开发平台后,该平台是National Instruments公司提供并用于测控的标准模块化产品;GPS组合惯导SPAN LCI(7)用于获取超导磁测量组件的飞行位置与姿态信息,其输出的秒脉冲信号PPS通过同轴线与数字IO模块NI 9402(6)的一个端口连接,而其输出授时时间、位置姿态信息的接口则与串口通讯模块NI 9871(10)的一个RS422端口连接;工作环境监测组件(8)用于测量超导全张量磁梯度测控装置的包括温湿度、气压或液氦液位参数辅助量;并过RS485接口与串口通讯模块NI 9871(10)适配;SQUID读出电路(9)用于实现被测磁场到电量的转换,采用标准的传统磁通锁定环工作模式,共9个通道,前4个通道为一组分别连接至Delta‑Sigma型ADC NI 9239A(3)的四个通道,接下来的4个通道为另一组分别连接至Delta‑Sigma型ADC NI 9239B(4)的四个通道,剩下的一个通道则连接至Delta‑Sigma型ADC NI 9239C(5),并通过与串口通讯模块NI 9871(10)的剩余RS485接口中一个适配以实现控制;②在①所述的测控装置基础上,增加函数发生器33622A(11)、高速示波器DSO9404A(12)和测试信号驱动电路(13)通过线缆连接对应的信号接口;其中a)函数发生器(11)与数字IO模块NI 9402(6)相连;b)高速示波器CH1端连接在数字IO模块(6)与输出秒脉冲信号PPS相连的同轴线上;另一端CH2则与函数发生器(11)连接;c)定制的测试信号驱动电路(13)的一端与函数发生器相连,另一端则与SQUID读出电路的Test端相连。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国科学院上海微系统与信息技术研究所,未经中国科学院上海微系统与信息技术研究所许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201420769999.1/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top