[实用新型]高可靠氮化铝成膜基片厚膜混合集成电路有效
| 申请号: | 201420355776.0 | 申请日: | 2014-06-30 |
| 公开(公告)号: | CN204118071U | 公开(公告)日: | 2015-01-21 |
| 发明(设计)人: | 杨成刚;刘学林;苏贵东;张玉刚;沈金晶 | 申请(专利权)人: | 贵州振华风光半导体有限公司 |
| 主分类号: | H01L27/13 | 分类号: | H01L27/13 |
| 代理公司: | 贵阳中工知识产权代理事务所 52106 | 代理人: | 刘安宁 |
| 地址: | 550018 贵*** | 国省代码: | 贵州;52 |
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| 摘要: | 高可靠氮化铝成膜基片厚膜混合集成电路,它由管基、管脚、底座、片式元器件、氧化铝陶瓷基片、氮化铝陶瓷基片、小功率芯片、大功率芯片、厚膜阻带、厚膜导带组成,片式元器件、小功率芯片、厚膜阻带集成在氧化铝陶瓷基片之上,厚膜导带、大功率芯片集成在氮化铝陶瓷基片之上;氧化铝陶瓷基片与底座间有金属厚膜;本实用新型的氮化铝陶瓷基片的背面有一层多层复合金属薄膜,正面有一层具有图形的多层复合金属薄膜,在正面多层复合金属薄膜上形成厚膜导带、厚膜键合区、厚膜焊接区。本电路解决了原有功率厚膜混合集成电路附着力不良的难题,广泛应用于航天、航空、船舶、电子、通讯、医疗设备、工业控制等领域,特别适用于高可靠装备系统领域。 | ||
| 搜索关键词: | 可靠 氮化 铝成膜基片厚膜 混合 集成电路 | ||
【主权项】:
高可靠氮化铝成膜基片厚膜混合集成电路,该电路仍然由管基(1)、管脚(2)、底座(3)、片式元器件(6)、氧化铝陶瓷基片(7)、氮化铝陶瓷基片(12)、小功率芯片(8)、大功率芯片(11)、厚膜阻带(9)、厚膜导带10组成,其中片式元器件(6)、小功率芯片(8)、厚膜阻带(9)集成在氧化铝陶瓷基片(7)之上,厚膜导带(10)、大功率芯片(11)集成在氮化铝陶瓷基片(12)之上;氧化铝陶瓷基片(12)与底座(3)之间有金属厚膜(4),本实用新型的特征在于:氮化铝陶瓷基片(12)的背面有一层真空镀膜形成的复合金属薄膜(14),用于与底座(3)之间进行粘贴,氮化铝陶瓷基片(12)的正面有一层选择性真空镀膜形成的多层复合金属薄膜(14),再在正面多层复合金属薄膜(14)上面采用丝网印刷和烧结的方式形成厚膜导带(10)、厚膜键合区(10)、大功率芯片厚膜焊接区(10),一起集成在氮化铝陶瓷基片(12)正面的多层复合金属薄膜(14)之上。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共绝缘衬底上形成的无源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
H01L27-14 . 包括有对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射或者微粒子辐射并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或适用于通过这样的辐射控制电能的半导体组件的
H01L27-15 .包括专门适用于光发射并且包括至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的半导体组件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料结点的热电元件的;包括有热磁组件的
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