[实用新型]高可靠氮化铝成膜基片厚膜混合集成电路有效

专利信息
申请号: 201420355776.0 申请日: 2014-06-30
公开(公告)号: CN204118071U 公开(公告)日: 2015-01-21
发明(设计)人: 杨成刚;刘学林;苏贵东;张玉刚;沈金晶 申请(专利权)人: 贵州振华风光半导体有限公司
主分类号: H01L27/13 分类号: H01L27/13
代理公司: 贵阳中工知识产权代理事务所 52106 代理人: 刘安宁
地址: 550018 贵*** 国省代码: 贵州;52
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摘要: 高可靠氮化铝成膜基片厚膜混合集成电路,它由管基、管脚、底座、片式元器件、氧化铝陶瓷基片、氮化铝陶瓷基片、小功率芯片、大功率芯片、厚膜阻带、厚膜导带组成,片式元器件、小功率芯片、厚膜阻带集成在氧化铝陶瓷基片之上,厚膜导带、大功率芯片集成在氮化铝陶瓷基片之上;氧化铝陶瓷基片与底座间有金属厚膜;本实用新型的氮化铝陶瓷基片的背面有一层多层复合金属薄膜,正面有一层具有图形的多层复合金属薄膜,在正面多层复合金属薄膜上形成厚膜导带、厚膜键合区、厚膜焊接区。本电路解决了原有功率厚膜混合集成电路附着力不良的难题,广泛应用于航天、航空、船舶、电子、通讯、医疗设备、工业控制等领域,特别适用于高可靠装备系统领域。
搜索关键词: 可靠 氮化 铝成膜基片厚膜 混合 集成电路
【主权项】:
 高可靠氮化铝成膜基片厚膜混合集成电路,该电路仍然由管基(1)、管脚(2)、底座(3)、片式元器件(6)、氧化铝陶瓷基片(7)、氮化铝陶瓷基片(12)、小功率芯片(8)、大功率芯片(11)、厚膜阻带(9)、厚膜导带10组成,其中片式元器件(6)、小功率芯片(8)、厚膜阻带(9)集成在氧化铝陶瓷基片(7)之上,厚膜导带(10)、大功率芯片(11)集成在氮化铝陶瓷基片(12)之上;氧化铝陶瓷基片(12)与底座(3)之间有金属厚膜(4),本实用新型的特征在于:氮化铝陶瓷基片(12)的背面有一层真空镀膜形成的复合金属薄膜(14),用于与底座(3)之间进行粘贴,氮化铝陶瓷基片(12)的正面有一层选择性真空镀膜形成的多层复合金属薄膜(14),再在正面多层复合金属薄膜(14)上面采用丝网印刷和烧结的方式形成厚膜导带(10)、厚膜键合区(10)、大功率芯片厚膜焊接区(10),一起集成在氮化铝陶瓷基片(12)正面的多层复合金属薄膜(14)之上。
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