[发明专利]一种采用多谱线比值法提高激光探针分析精确度的方法有效
申请号: | 201410852515.4 | 申请日: | 2014-12-30 |
公开(公告)号: | CN104483292A | 公开(公告)日: | 2015-04-01 |
发明(设计)人: | 李祥友;李阔湖;曾晓雁;郭连波;陆永枫;杨新艳;李嘉铭;王旭朝;朱光正;邹孝恒;喻惠武 | 申请(专利权)人: | 华中科技大学 |
主分类号: | G01N21/63 | 分类号: | G01N21/63 |
代理公司: | 华中科技大学专利中心 42201 | 代理人: | 曹葆青 |
地址: | 430074 湖北*** | 国省代码: | 湖北;42 |
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摘要: | 本发明属于激光探针定量分析技术,具体为一种提高激光探针分析精确度的方法,以利用多谱线比值法提高激光探针定量分析准确度和精密度。该方法首先对被测元素和基体元素的多条谱线间的强度比值进行优化,然后将优化后的一些强度比值作为定量分析模型的输入值,对模型进行训练,使用训练后的分析模型实现对被测物中被测元素的定量分析。该方法自动去除不合适的谱线比值,只留下那些能很好地反映被测元素含量信息和等离子体状态信息的被测元素谱线和基体元素谱线的强度比值留下来参与定量分析,同时,在较宽的谱线强度比值选择范围内,本发明的分析准确度和精密度都好于内标法,说明鲁棒性很好,有利于定量分析。 | ||
搜索关键词: | 一种 采用 多谱线 比值 提高 激光 探针 分析 精确度 方法 | ||
【主权项】:
一种提高激光探针分析精确度的方法,首先在采集的标准样品光谱中找到至少一条能反映被测元素含量变化的谱线,另外根据决定系数选择基体元素的至少二条谱线,其谱线强度能够反映其所处位置的等离子体状态信息;利用找到的标准样品中被测元素的谱线和基体元素的谱线的一部分强度比值作为输入值,标准样品中被测元素的含量作为标准输出,对选取的分析模型进行训练,获得训练好的分析模型和被测元素最优谱线比值集C1的构成规则,再按下述过程对被测元素进行分析:第1步使用激光探针系统采集被测物的光谱,并找到和标准样品中该被测元素的最优谱线比值集C1中比值所用到的被测元素谱线和基体元素谱线;第2步根据分析模型校准环节获得的被测元素最优谱线比值集C1的构成规则,构建被测物中被测元素的最优谱线比值集C2;第3步将被测元素最优谱线强度比值集C2中的谱线强度比值作为输入值,代入训练后的分析模型,输出被测元素的含量。
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