[发明专利]一种预测非易失性存储介质发生故障的方法及装置有效
| 申请号： | 201410822384.5 | 申请日： | 2014-12-25 |
| 公开（公告）号： | CN105787242B | 公开（公告）日： | 2019-02-26 |
| 发明（设计）人： | 孔伟康;李定;李强 | 申请（专利权）人： | 华为技术有限公司 |
| 主分类号： | G06F11/22 | 分类号： | G06F11/22 |
| 代理公司： | 北京同达信恒知识产权代理有限公司 11291 | 代理人： | 冯艳莲 |
| 地址： | 518129 广东*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明涉及计算机技术领域，公开了一种预测非易失性存储介质发生故障的方法及装置：针对数据中心的至少两个非易失性存储介质中的任意一非易失性存储介质，分别执行：计算任意一非易失性存储介质的状况值，状况值用于表征任意一非易失性存储介质的运行状况；确定状况值小于与任意一非易失性存储介质对应的初始预设故障门限值时，预测任意一非易失性存储介质将发生故障；状况值不同的任意两个非易失性存储介质分别对应的初始预设故障门限值不同，在该方案中，状况值不同的非易失性存储介质分别对应不同的初始预设故障门限值，即状况值不同的非易失性存储介质分别对应不同的报警门槛，因此，提高了预测出的发生故障的非易失性存储介质的准确度。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 预测 非易失性 存储 介质 发生 故障 方法 装置 | ||
【主权项】：
1.一种预测非易失性存储介质发生故障的方法，其特征在于，包括：针对数据中心的至少两个非易失性存储介质中的任意一非易失性存储介质，分别执行：计算所述任意一非易失性存储介质的状况值，所述状况值用于表征所述任意一非易失性存储介质的运行状况；确定所述状况值小于与所述任意一非易失性存储介质对应的初始预设故障门限值时，预测所述任意一非易失性存储介质将发生故障；状况值不同的任意两个非易失性存储介质分别对应的初始预设故障门限值不同。
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