[发明专利]一种用于三维面形测量的正交光栅相移方法

摘要

本发明公开了一种正交光栅相移方法。在传统的正交光栅相移方法中，为解调出两正交方向的相位信息，通常需对正交的两个方向(即水平方向和垂直方向)条纹分别进行相移，因此需要2N(N≧3)帧图像才能得到各自的相位分布，当采用机械装置进行相移时，则须采用二维平移机构。本发明提出将正交光栅沿一特定方向进行相移，使其水平方向条纹和垂直方向条纹的相移量具有整数倍关系，从而实现两个正交方向条纹同步相移，通过N帧相移图像，即可计算出各方向的相位分布。本发明可同时进行两个正交方向条纹相移，当采用机械装置时，仅须一维平移机构，特别适用于采用正交光栅的三维面形测量系统。

主权项

一种用于三维面形测量的正交光栅相移方法，其特征在于：同时对正交光栅中的两个正交方向条纹进行相移，当采用N帧满周期相移技术进行相移时，其中一个正交方向条纹相移量设定为2π/N，另一个正交方向条纹相移量为2kπ/N，k的取值范围为[2,N‑2]，且N≥5；在获取N幅图像后，即可按照满周期相位计算公式求解出各方向相位分布，本方法不需要对各方向条纹进行单独相移；所述的正交光栅图样是采用正弦或余弦周期沿正交方向，即x和y方向构造具有复合相位信息的二维特征图像。