[发明专利]一种内存特性测试系统在审
| 申请号： | 201410770538.0 | 申请日： | 2014-12-15 |
| 公开（公告）号： | CN104616700A | 公开（公告）日： | 2015-05-13 |
| 发明（设计）人： | 陆翔 | 申请（专利权）人： | 海太半导体（无锡）有限公司 |
| 主分类号： | G11C29/56 | 分类号： | G11C29/56 |
| 代理公司： | 无锡市朗高知识产权代理有限公司 32262 | 代理人： | 杨虹 |
| 地址： | 214000 江苏省无*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本发明提供一种内存特性测试系统，包括：测试抓取装置及内存特性测试制具；所述测试抓取装置用于抓取内存至内存特性测试制具上进行测试；所述测试抓取装置包括电机，所述电机运转速度与内存特性测试制具时间匹配；且所述测试抓取装置的延迟和内存特性测试制具的测试时间相匹配，通过改善后内存特性测试制具测试时间大大减少，设备生产效率提高，促进了设备的生产产能提高，节约成本，满足生产需求。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 内存 特性 测试 系统 | ||
【主权项】：
一种内存特性测试系统，其特征在于，包括：测试抓取装置及内存特性测试制具；所述测试抓取装置用于抓取内存至内存特性测试制具上进行测试；所述测试抓取装置包括电机，所述电机运转速度与内存特性测试制具时间匹配。
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