[发明专利]测试电路中的多个模块的测试方法和测试设备有效
| 申请号： | 201410586635.4 | 申请日： | 2014-10-28 |
| 公开（公告）号： | CN105629148B | 公开（公告）日： | 2018-08-28 |
| 发明（设计）人： | 王柳笛;董菲;龚书;吕寅鹏;李海龙 | 申请（专利权）人： | 国际商业机器公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 北京市柳沈律师事务所 11105 | 代理人： | 于小宁 |
| 地址： | 美国纽*** | 国省代码： | 美国;US |
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| 摘要： | 本发明公开了一种用于测试电路中的多个模块的测试设备和测试方法，所述多个模块具有相同的结构。所述测试设备包括：比较装置，被配置为收集通过将激励信号并行施加于所述多个模块而由所述多个模块产生的输出响应，比较所述多个模块的输出响应以确定所述多个模块的输出响应是否相同，并且输出指示该比较装置的比较结果的信号；以及确定装置，被配置为接收所述信号，并且根据该比较装置的比较结果来确定所述多个模块是否具有缺陷。利用所述测试设备和测试方法，可以简化对于所述多个具有相同结构的模块的测试过程，提高测试效率。 | ||
| 搜索关键词： | 测试 电路 中的 模块 方法 设备 | ||
【主权项】：
1.一种用于测试电路中的多个模块的测试设备，所述多个模块具有相同的结构，所述测试设备包括：比较装置，被配置为收集通过将激励信号并行施加于所述多个模块而由所述多个模块产生的输出响应，比较所述多个模块的输出响应以确定所述多个模块的输出响应是否相同，并且输出该比较装置的比较结果,其中，所述比较装置依序将所述多个模块的输出响应两两地进行比较，以确定所述多个模块的输出响应是否相同；以及确定装置，被配置为接收该比较装置的比较结果，并且根据该比较装置的比较结果来确定所述多个模块是否具有缺陷；其中，所述确定装置响应于被比较的两个模块的输出响应相同，确定这两个模块不具有缺陷；以及其中，所述确定装置响应于被比较的两个模块的输出响应不同，确定这两个模块中的至少一个模块具有缺陷；并且其中，所述确定装置响应于被比较的两个模块的输出响应不同，并且这两个模块中的一个模块与所述多个模块中除了这两个模块之外的某个模块的输出响应相同，确定这两个模块中的另一模块具有缺陷。
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