[发明专利]评价光热转换材料在热转印膜中分散的方法和热转印膜无效

专利信息
申请号: 201410355922.4 申请日: 2014-07-24
公开(公告)号: CN104339907A 公开(公告)日: 2015-02-11
发明(设计)人: 朴世铉;姜炅求;赵成昕;金旻惠;金成汉;朴时均;李恩受;李正孝;崔晋喜 申请(专利权)人: 三星SDI株式会社
主分类号: B41M5/382 分类号: B41M5/382;G01N21/59
代理公司: 北京德琦知识产权代理有限公司 11018 代理人: 康泉;王珍仙
地址: 韩国*** 国省代码: 韩国;KR
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摘要: 发明公开了用于评价光热转换材料在热转印膜中分散的方法和使用所述方法的热转印膜。所述方法包括:根据等式2和3计算所述热转印膜的光密度OD1和OD2;并根据等式1基于所述光密度OD1和OD2计算分散的评估值(ΔOD)。当所述分散的评估值(ΔOD)为0.1或更小时,确定所述热转印膜具有所述光热转换材料的良好分散,并且当所述分散的评估值(ΔOD)超过0.1时,所述热转印膜具有所述光热转换材料的差分散。
搜索关键词: 评价 光热 转换 材料 热转印膜中 分散 方法 热转印膜
【主权项】:
一种用于评价光热转换材料在热转印膜中分散的方法,所述方法包括:分别根据下面的等式2和3计算所述热转印膜的光密度OD1和OD2;并且根据等式1基于所述光密度OD1和OD2计算分散的评估值ΔOD,其中,当所述分散的评估值ΔOD为0.1或更小时,确定所述热转印膜具有所述光热转换材料的良好分散,并且当所述分散的评估值ΔOD超过0.1时,确定所述热转印膜具有所述光热转换材料的差分散,<等式1>ΔOD=|OD2‑OD1|等式1中,OD1和OD2分别由等式2和3表示,<等式2>OD1=﹣log(T2/T1)<等式3>OD2=﹣log(T3/T1)等式2和等式3中,T1表示不将所述热转印膜放在包括反光镜的透射率测量设备中而测量的透射率,单位为%,T2表示在将热转印膜放在包括所述反光镜的所述透射率测量设备中后而测量的所述热转印膜的透射率,单位为%,并且T3表示在将所述热转印膜放在不包括反光镜的所述透射率测量设备中后而测量的所述热转印膜的透射率,单位为%。
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