[发明专利]嵌入式系统的测试方法、测试装置和测试系统

摘要

本发明公开了一种嵌入式系统的测试方法，包括：获取嵌入式系统中待测设备的驱动程序、故障发生模拟程序和测试程序，并写入嵌入式系统；根据测试程序对故障发生模拟程序进行配置以使故障发生模拟程序生成测试实例；嵌入式系统执行驱动程序以运行待测设备；通过故障发生模拟程序根据测试实例对嵌入式系统中的待测设备进行修改，并对待测设备进行测试。本发明的嵌入式系统的测试方法能够对嵌入式系统中待测设备的容错和纠错性能进行全面的检测和验证，并满足不同嵌入式系统的测试需求，可移植性高，实施成本低，效率高。本发明还公开了一种嵌入式系统的测试装置和一种包括该嵌入式系统的测试装置的嵌入式系统的测试系统。

主权项

一种嵌入式系统的测试方法，其特征在于，包括以下步骤：获取嵌入式系统中待测设备的驱动程序、故障发生模拟程序和测试程序，并写入嵌入式系统；根据所述测试程序对所述故障发生模拟程序进行配置以使所述故障发生模拟程序生成测试实例；所述嵌入式系统执行所述驱动程序以运行所述待测设备；以及通过所述故障发生模拟程序根据所述测试实例对所述嵌入式系统中的待测设备进行修改，并对所述待测设备进行测试。