[发明专利]基于双边带调制的光器件测量方法及测量装置有效
| 申请号： | 201410291393.6 | 申请日： | 2014-06-25 |
| 公开（公告）号： | CN104101484A | 公开（公告）日： | 2014-10-15 |
| 发明（设计）人： | 潘时龙;卿婷;薛敏;黄梦昊 | 申请（专利权）人： | 南京航空航天大学 |
| 主分类号： | G01M11/02 | 分类号： | G01M11/02 |
| 代理公司： | 南京经纬专利商标代理有限公司 32200 | 代理人： | 杨楠 |
| 地址： | 210016 江*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种基于双边带调制的光器件测量方法，属于光器件测量、微波光子学技术领域。首先利用光双边带调制方法将射频信号调制于第一光载波信号上，生成双边带调制信号；然后令双边带调制信号通过待测光器件后与第二光载波信号合束，所述第二光载波信号与第一光载波信号之间存在频率差；利用光电探测器对合束后的信号进行拍频，然后提取拍频信号中+1阶边带信号及-1阶边带信号的幅度信息；扫描所述射频信号的频率，即得到待测光器件的宽带幅频响应。本发明还公开了一种基于双边带调制的光器件测量装置。本发明在降低系统复杂度和成本的同时，大幅提高了测量范围和测量效率，更重要地是为光器件测量技术开辟了一个全新的方向。 | ||
| 搜索关键词： | 基于 双边带调制 器件 测量方法 测量 装置 | ||
【主权项】：
基于双边带调制的光器件测量方法，其特征在于，首先利用光双边带调制方法将频率为![]()
的射频信号调制于频率为![]()
的第一光载波信号上，生成双边带调制信号；然后令双边带调制信号通过待测光器件后与第二光载波信号合束，所述第二光载波信号与第一光载波信号之间存在频率差；利用光电探测器对合束后的信号进行拍频，然后提取拍频信号中+1阶边带信号及‑1阶边带信号的幅度信息，该+1阶边带信号的幅度信息和‑1阶边带信号的幅度信息分别为待测光器件在频率![]()
和频率![]()
处的幅频响应；扫描所述射频信号的频率，即得到待测光器件的宽带幅频响应。
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