[发明专利]一种激光近净成形过程中快速确定Z轴提升量的方法有效

专利信息
申请号: 201410239042.0 申请日: 2014-05-31
公开(公告)号: CN104016687B 公开(公告)日: 2017-06-23
发明(设计)人: 吴东江;牛方勇;周思雨;马广义;郭东明 申请(专利权)人: 大连理工大学
主分类号: G06N5/04 分类号: G06N5/04
代理公司: 大连理工大学专利中心21200 代理人: 关慧贞,梅洪玉
地址: 116024 辽*** 国省代码: 辽宁;21
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摘要: 发明公布了一种激光近净成形过程中快速确定Z轴提升量的方法,主要包括以下步骤(1)利用预先设定的工艺参数确定沉积层宽度w;(2)然后结合沉积层宽度w及送粉粉流焦点大小确定粉末利用率u1;(3)将上述所得数据及初始工艺参数代入基于体积守恒推导的Z轴提升量模型直接计算得到Z轴提升量Δz。本发明利用数学模型综合考虑了影响Z轴提升量的主要参数,可直接并准确地确定激光近净成形过程中的Z轴提升量值,避免了传统方法中大量实验优化工作同时又提高了成形精度及效率。
搜索关键词: 一种 激光 成形 过程 快速 确定 提升 方法
【主权项】:
一种激光近净成形过程中快速确定Z轴提升量Δz的方法,其特征在于包括以下步骤:A、利用预先设定的机床的扫描速度v、送粉器的送粉速率及激光器的激光功率P确定沉积层宽度w;所述的沉积层宽度w的值通过实际成形单道单层沉积层后进行宽度测量得到;B、根据确定的沉积层宽度w及与机床耦合的送粉喷嘴的粉末流焦点大小确定粉末利用率u1;粉末利用率与熔池大小及粉末流的汇聚状态有关系,通过熔池面积与粉末流截面面积的比值计算得出;C、将确定的扫描速度v、送粉速率、沉积层宽度w及粉末利用率u1代入Z轴提升量模型计算Z轴提升量Δz值:Δz=u1·m·w·v·ρ]]>其中,ρ为成形材料密度,单位为g/m3。
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