[发明专利]一种利用芯片保护二极管测量电路开短路的装置在审
申请号: | 201410192048.7 | 申请日: | 2014-05-08 |
公开(公告)号: | CN103969545A | 公开(公告)日: | 2014-08-06 |
发明(设计)人: | 徐欢夏 | 申请(专利权)人: | 江苏联康电子有限公司 |
主分类号: | G01R31/02 | 分类号: | G01R31/02 |
代理公司: | 南京经纬专利商标代理有限公司 32200 | 代理人: | 许方 |
地址: | 223700 江*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | 本发明公开了一种利用芯片保护二极管测量电路开短路的装置,包含测量仪和待测IC,所述测试仪包含DC输入模块、显示模块、稳压电路、微处理器和输入输出接口,所述待测IC包含保护二极管,所述显示LED模块和输入输出接口连接在微处理器的相应端口上,所述输入输出接口连接待测ICPIN脚。该装置结构简单测试效率高;可以单独进行IC测试;能够测试PCBA板上与IC相连接的CONN焊接是否开短路。不需要组装成实机进行测试,从而提高测试效率。 | ||
搜索关键词: | 一种 利用 芯片 保护 二极管 测量 电路 短路 装置 | ||
【主权项】:
一种利用芯片保护二极管测量电路开短路的装置,其他特征在于:包含测量仪和待测IC,所述测试仪包含DC输入模块、显示模块、稳压电路、微处理器和输入输出接口,所述待测IC包含保护二极管,所述显示LED模块和输入输出接口连接在微处理器的相应端口上,所述输入输出接口连接待测IC PIN脚。
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