[发明专利]测量SF6分解气体中SO2气体浓度的方法无效

专利信息
申请号: 201410171524.7 申请日: 2014-04-25
公开(公告)号: CN103900987A 公开(公告)日: 2014-07-02
发明(设计)人: 鲁钢;刘洋;宋杲;颜湘莲;季严松;苏镇西;杨韧;赵也;姚强 申请(专利权)人: 国家电网公司;黑龙江省电力科学研究院;中国电力科学研究院;国网安徽省电力公司电力科学研究院;国网陕西省电力公司电力科学研究院;国网重庆市电力公司电力科学研究院
主分类号: G01N21/33 分类号: G01N21/33
代理公司: 哈尔滨市松花江专利商标事务所 23109 代理人: 张宏威
地址: 100031 *** 国省代码: 北京;11
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摘要: 测量SF6分解气体中SO2气体浓度的方法,涉及光电技术检测技术领域。它是为了解决在SF6分解气体测量时,测得的SF6分解气体中SO2气体浓度的精度低的问题。本发明所述的测量SF6分解气体中SO2气体浓度的方法,首先测量波长大于200nm且小于230nm待测SO2气体的光谱,然后依据比尔定律,计算获得待测SO2气体浓度,该方法简化了数据处理过程,从而使SO2气体浓度的精度提高了50%。本发明所述的测量SF6分解气体中SOF2浓度的方法,适用于对SF6分解气体中的SO2气体进行浓度测量。本发明适用于光电技术检测技术领域。
搜索关键词: 测量 sf sub 分解 气体 so 浓度 方法
【主权项】:
测量SF6分解气体中SO2气体浓度的方法,其特征在于,该方法是基于下述装置实现的,所述装置包括:氘灯(1)、第一聚光镜(2)、样品池(3)、第二聚光镜(4)和光谱仪(5);氘灯(1)放置在第一聚光镜(2)的焦距处,氘灯(1)发出的光束经过第一聚光镜(2)透射至样品池(3)中,经样品池(3)透射的该光入射至第二聚光镜(4),该第二聚光镜(4)将该入射光束汇聚后发送至光谱仪(5)的入射狭缝中;所述测量SF6分解气体中SO2气体浓度的方法包括以下步骤:步骤一:在样品池(3)中充入待检测的SO2气体,通过光谱仪(5)获得波长大于200nm且小于230nm待检测的SO2气体的光谱I(λ);步骤二:依据比尔定律,利用步骤一获得波长大于200nm且小于230nm待检测的SO2气体的光谱I(λ),利用SO2气体特征吸收峰的近邻峰谷比,计算充入样品池(3)中的待测SO2气体的浓度N。
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