[发明专利]一种提高纳米粒子荧光成像清晰度的方法及装置

摘要

本发明属于荧光成像技术领域，具体为一种提高纳米粒子荧光成像清晰度的方法及装置。解决了由于纳米粒子荧光辐射起伏以及信号信噪比较低所造成的荧光成像模糊等技术问题。一种提高纳米粒子荧光成像清晰度的方法，包括以下步骤：向用于激发纳米粒子样品的激光加载一个强度调制信号，将该激光入射至纳米粒子样品；采集纳米粒子样品在激光的激发下所发射的携带有调制信号特性的荧光信号,利用相敏检波提取纳米粒子荧光的相位信息；对整个纳米粒子样品进行两维扫描，得到纳米粒子样品发射荧光的模拟信号成像。本发明通过提取纳米粒子荧光的相位信息用于纳米粒子的荧光成像，有效抑制纳米粒子荧光辐射的量子起伏，实现高清晰度的纳米粒子荧光成像。

主权项

一种提高纳米粒子荧光成像清晰度的方法，其特征在于，包括以下步骤：（a）向用于激发纳米粒子样品的激光加载一个强度调制信号，将加载有强度调制信号的激光照射纳米粒子样品；（b）收集纳米粒子样品在激光的激发下所发射的带有调制信号特性的荧光信号，利用相敏检波提取纳米粒子荧光的相位信息；（c）对纳米粒子样品进行扫描，根据调制信号提取纳米粒子荧光的相位信息，获得纳米粒子样品发射荧光的模拟信号成像；（d）选择样品中任意一个纳米粒子，将该纳米粒子移动到激光的焦点内，激光激发纳米粒子辐射荧光，即可获得该纳米粒子的模拟信号荧光光谱。