[发明专利]一种基于离散晶体的高能光子反应深度的定位方法有效

专利信息
申请号: 201410147982.7 申请日: 2014-04-14
公开(公告)号: CN103901463A 公开(公告)日: 2014-07-02
发明(设计)人: 都东;石涵;彭旗宇;许剑锋 申请(专利权)人: 清华大学
主分类号: G01T1/202 分类号: G01T1/202;G06F19/00
代理公司: 北京鸿元知识产权代理有限公司 11327 代理人: 邸更岩
地址: 100084 北京市海淀区1*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 一种基于离散晶体的高能光子反应深度的定位方法,该方法利用离散晶体映射解码图中的反应深度信息,直接确定高能光子的反应深度,其包括如下步骤:a)标定高能光子反应深度与解码位置的对应关系;b)根据反应深度定位要求设定反应深度定位级别;c)根据反应深度级别确定反应深度分割边界;d)基于反应深度分割边界,由高能光子解码位置定位高能光子的反应深度。根据本发明的上述方法,通过建立反应深度与解码位置的对应关系和反应深度分割边界,不仅能有效解出高能光子反应深度信息,而且不需要传统方法中针对深度定位附加设计的复杂结构,节约成本,简单有效。
搜索关键词: 一种 基于 离散 晶体 高能 光子 反应 深度 定位 方法
【主权项】:
1.一种基于离散晶体的高能光子反应深度的定位方法,其特征在于所述方法包括下述步骤:1)标定高能光子反应深度与映射解码图中解码位置的对应关系:设变量l为反应深度,在长度为L0的晶体上设定N个采样点,设反应深度分别为l1,l2,……,lN,在N个反应深度下分别发生多次高能光子反应,用Anger重心法计算出各个反应深度对应的解码位置分布……,并求出各个位置分布的解码位置重心……,xl=ΣSfl(x,y)·xΣSfl(x,y)yl=ΣSfl(x,y)·yΣSfl(x,y)]]>其中S为映射解码区域,x和y为映射解码图中的坐标值;通过曲线拟合重心序列,形成重心轨迹曲线y=p(x),曲线上的每一点,对应了一个反应深度下的解码位置分布的重心;2)根据反应深度定位要求设定反应深度定位级别:若设定M+1级,则沿反应深度方向将晶体划分为M+1个区间,则有M个区间节点,每个节点对应了一个反应深度,第j个节点对应的反应深度为lj,j取1,2……M,M为自然数,相邻的两个节点划分了一个反应深度区间,第1个和第M+1个的反应深度区间分别由第1个节点和第M个节点与端面划分;3)根据反应深度级别确定分割边界:在重心轨迹曲线上找到各个节点反应深度对应的重心位置,第j个节点对应的重心位置为在该点处作轨迹曲线的垂线y=gj(x),作为对应节点反应深度下的分割边界;4)对于未知反应深度的高能光子反应事件,判断反应深度时,首先用Anger重心法计算其映射解码位置,设为(x0,y0),再利用判别式Δj=y0-gj(x0)判别高能光子反应深度与节点处的位置关系,如果高能光子在第j节点和第j+1节点的判别式异号,即Δj·Δj+1<0,则判定高能光子发生在第j节点和第j+1节点之间,即第j+1个反应深度区间;如果M个节点的判别式都为正或负,则判定高能光子发生在第1个区间或第M+1个区间。
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