[发明专利]离子注入层的光学临近效应修正方法有效
申请号: | 201410109835.0 | 申请日: | 2014-03-24 |
公开(公告)号: | CN103869598B | 公开(公告)日: | 2017-05-10 |
发明(设计)人: | 陈翰;魏芳;张旭升;储志浩 | 申请(专利权)人: | 上海华力微电子有限公司 |
主分类号: | G03F1/36 | 分类号: | G03F1/36 |
代理公司: | 上海思微知识产权代理事务所(普通合伙)31237 | 代理人: | 王宏婧 |
地址: | 201203 上海市*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | 本发明揭露了一种离子注入层的光学临近效应修正方法,包括提供相关层的版图,通过逻辑计算得到离子注入层的原始版图;将所述原始版图中单点相连的图形和非单点相连图形分离开;针对两者分别采用不同的预处理方法,然后再将预处理后的图形进行合并,从而有效避免OPC修正过程中产生不合理图形导致工艺弱点出现的状况,大大提高器件可靠性和产品良率。 | ||
搜索关键词: | 离子 注入 光学 临近 效应 修正 方法 | ||
【主权项】:
一种离子注入层的光学临近效应修正方法,包括:提供一离子注入层的相关层的版图,通过逻辑计算得到所述离子注入层的原始版图;根据判定方法选出原始版图中单点相连的点;将与单点相连的点相连的边从原始版图中分离去除;对单点相连的图形中非单点相连处的边进行放大处理,对单点相连处的边不进行放大处理,对非单点相连图形进行放大处理;合并单点相连的图形和非单点相连图形,得到离子注入层的预处理版图数据;对所述预处理版图数据进行OPC修正,获得图形数据。
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G03 摄影术;电影术;利用了光波以外其他波的类似技术;电记录术;全息摄影术
G03F 图纹面的照相制版工艺,例如,印刷工艺、半导体器件的加工工艺;其所用材料;其所用原版;其所用专用设备
G03F1-00 用于图纹面的照相制版的原版,例如掩膜,光掩膜;其所用空白掩膜或其所用薄膜;其专门适用于此的容器;其制备
G03F1-20 .用于通过带电粒子束(CPB)辐照成像的掩膜或空白掩膜,例如通过电子束;其制备
G03F1-22 .用于通过100nm或更短波长辐照成像的掩膜或空白掩膜,例如 X射线掩膜、深紫外
G03F1-26 .相移掩膜[PSM];PSM空白;其制备
G03F1-36 .具有临近校正特征的掩膜;其制备,例如光学临近校正(OPC)设计工艺
G03F1-38 .具有辅助特征的掩膜,例如用于校准或测试的特殊涂层或标记;其制备
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