[发明专利]离子注入层的光学临近效应修正方法有效

专利信息
申请号: 201410109835.0 申请日: 2014-03-24
公开(公告)号: CN103869598B 公开(公告)日: 2017-05-10
发明(设计)人: 陈翰;魏芳;张旭升;储志浩 申请(专利权)人: 上海华力微电子有限公司
主分类号: G03F1/36 分类号: G03F1/36
代理公司: 上海思微知识产权代理事务所(普通合伙)31237 代理人: 王宏婧
地址: 201203 上海市*** 国省代码: 上海;31
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摘要: 发明揭露了一种离子注入层的光学临近效应修正方法,包括提供相关层的版图,通过逻辑计算得到离子注入层的原始版图;将所述原始版图中单点相连的图形和非单点相连图形分离开;针对两者分别采用不同的预处理方法,然后再将预处理后的图形进行合并,从而有效避免OPC修正过程中产生不合理图形导致工艺弱点出现的状况,大大提高器件可靠性和产品良率。
搜索关键词: 离子 注入 光学 临近 效应 修正 方法
【主权项】:
一种离子注入层的光学临近效应修正方法,包括:提供一离子注入层的相关层的版图,通过逻辑计算得到所述离子注入层的原始版图;根据判定方法选出原始版图中单点相连的点;将与单点相连的点相连的边从原始版图中分离去除;对单点相连的图形中非单点相连处的边进行放大处理,对单点相连处的边不进行放大处理,对非单点相连图形进行放大处理;合并单点相连的图形和非单点相连图形,得到离子注入层的预处理版图数据;对所述预处理版图数据进行OPC修正,获得图形数据。
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