[发明专利]一种标准单元漏电流的测试电路及测试方法在审
| 申请号： | 201410108433.9 | 申请日： | 2014-03-21 |
| 公开（公告）号： | CN104931759A | 公开（公告）日： | 2015-09-23 |
| 发明（设计）人： | 鱼江华;陈志强;古力;张凤娟;郭响妮 | 申请（专利权）人： | 中芯国际集成电路制造（上海）有限公司 |
| 主分类号： | G01R19/00 | 分类号： | G01R19/00 |
| 代理公司： | 上海光华专利事务所 31219 | 代理人： | 李仪萍 |
| 地址： | 201203 *** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明提供一种标准单元漏电流的测试电路及测试方法，所述测试电路包括多个串接的基础单元结构，各基础单元结构包括驱动电路及目标单元电路，所述目标单元电路组合有多个待测试的标准单元；所述驱动电路由多个驱动单元组成，用于挂载所述目标单元电路中的各该标准单元，以使各标准单元的在稳定状态下的输入保持一致，所述驱动电路的漏电流不大于所述目标单元电路的漏电流。首先测试由缓冲器和与非门组成的测试电路的总漏电流值；再将标准单元替换为驱动单元，测试其总漏电流值；计算出单个驱动单元的漏电流值；最后计算出单个标准单元的漏电流值。本发明的标准单元漏电流的测试电路及测试方法简单易操作，能准确、便捷的测试出标准单元的漏电流。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 标准 单元 漏电 测试 电路 方法 | ||
【主权项】：
一种标准单元漏电流的测试电路，其特征在于，所述测试电路包括多个串接的基础单元结构，各基础单元结构包括驱动电路及目标单元电路，其中：所述目标单元电路组合有多个待测试的标准单元；所述驱动电路由多个驱动单元组成，用于挂载所述目标单元电路中的各该标准单元，以使各标准单元的在稳定状态下的输入保持一致，其中，所述驱动电路的漏电流不大于所述目标单元电路的漏电流。
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