[发明专利]一种SGS与TGS联合测量装置及准直器优化方法

摘要

本发明涉及一种SGS与TGS联合测量装置及准直器的优化方法，该装置包括探测系统、铅屏蔽体、准直器、样品测量平台和投射屏蔽体，其中，所述探测系统固定在测量台架上，探测器安装在所述铅屏蔽体中；所述准直器包括SGS准直器模块或TGS准直器模块中的一种，均安装在所述铅屏蔽体上；所述样品测量平台在准直器与投射屏蔽体之间，测量时，将样品放置在所述样品测量平台上；在测量时，所述TGS准直器与SGS准直器能够切换；所述TGS准直器与SGS准直器通过蒙特卡罗模拟方法进行优化设计，确定形状。本发明结合SGS与TGS各自测量要求，通过蒙特卡罗模拟方法，兼容SGS与TGS测量要求，能够满足SGS与TGS测量要求的联合装置；并且可在两种测量模式中切换。

主权项

一种SGS与TGS联合测量装置，其特征在于，该联合测量装置包括探测系统、铅屏蔽体、准直器、样品测量平台和投射屏蔽体，其中，所述探测系统固定在测量台架上，探测器安装在所述铅屏蔽体中；所述准直器包括SGS准直器模块或TGS准直器模块中的一种，均安装在所述铅屏蔽体上；所述样品测量平台在准直器与投射屏蔽体之间，测量时，将样品放置在所述样品测量平台上；该联合测量装置具有实现所述SGS准直器将样品轴向旋转与垂直上升测量，以及TGS准直器将样品轴向旋转、平移与垂直上升测量要求的样品测量平台；在测量时，所述TGS准直器与SGS准直器能够切换；所述TGS准直器与SGS准直器通过蒙特卡罗模拟方法进行优化设计，确定形状；所述TGS准直器对样品透射测量，计算每个体素的线衰减系数；自发射测量，计算每个体素衰减校正系数；利用蒙特卡罗模拟方法建立衰减校正因子物理模型，针对特定测量对象，计算出当前层样品与邻层样品的探测效率比；根据特定的分块尺寸，调节TGS准直器结构；当邻层探测效率与当前层探测效率之比小于30％时，TGS准直器满足要求；所述SGS准直器，基于蒙特卡罗算法，跟踪模拟样品中对于物料发射的特定能量射线在特定准直条件下在样品中输运过程，获取经过校正后物料发射γ射线总计数率的统计估计；基于蒙特卡罗方法，跟踪模拟在探测器及其屏蔽准直体中对于特定能量γ射线的输运过程，获取探测效率；通过蒙特卡罗模拟方法，针对特定测量对象与测量系统，按SGS准直器特定分层测量要求，SGS准直器满足串扰小于40％，符合SGS准直器测量要求。