[发明专利]用于测量值和上下文信息的存储模式有效

专利信息
申请号: 201410096827.7 申请日: 2014-03-17
公开(公告)号: CN104049123B 公开(公告)日: 2019-05-10
发明(设计)人: T.D.安德森 申请(专利权)人: 弗兰克公司
主分类号: G01R15/12 分类号: G01R15/12;G01D21/02;G01D9/00
代理公司: 中国专利代理(香港)有限公司 72001 代理人: 臧永杰;刘春元
地址: 美国华*** 国省代码: 美国;US
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摘要: 在一方面,便携手持测量设备自动按受限回放存储模式在易失性存储器中存储测量值,所述受限回放存储模式包括存储限制,所述存储限制应用于按受限回放存储模式存储的多个测量值;接收回放请求;以及响应于回放请求,呈现按受限回放存储模式存储的测量值中的至少一些。在另一方面,便携手持测量设备自动根据持久存储模式来存储测量值和相关联的上下文数据;以及自动根据受限回放存储模式存储测量值,其中受限回放存储模式包括不存在于持久存储模式中的存储限制。
搜索关键词: 用于 测量 上下文 信息 存储 模式
【主权项】:
1.一种便携手持测量设备,包括:用户输入设备;输出设备;测量电路,被配置成测量一个或多个电或机械参数并且生成多个对应的测量值;处理器;以及存储系统,包括易失性存储器,所述存储系统已在其中存储了计算机可执行指令,所述计算机可执行指令被配置成使得所述便携手持测量设备:自动和同时在易失性存储器和非易失性存储器中存储相同的多个测量值,其中所述多个测量值按受限回放存储模式存储在易失性存储器中,所述受限回放存储模式包括存储限制,所述存储限制应用于按所述受限回放存储模式存储的多个测量值,并且其中所述受限回放存储模式允许重写先前存储在所述易失性存储器中的测量值以便适应所述存储限制并且提供对更近测量值的访问,所述多个测量值使用滚动时间窗存储在所述易失性存储器中,在所述滚动时间窗中在所述易失性存储器中最不近的测量值自动被最近的测量值重写;接收回放请求;以及响应于所述回放请求,经由所述输出设备呈现按所述受限回放存储模式存储在所述易失性存储器中的所述多个测量值中的至少一些测量值。
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