[发明专利]一种用于细长形盲孔零件深度测量的装置在审

专利信息
申请号: 201410064176.3 申请日: 2014-02-25
公开(公告)号: CN104864798A 公开(公告)日: 2015-08-26
发明(设计)人: 徐晓冬;刘忠柏;李琳;赵源东;孙梦民 申请(专利权)人: 哈尔滨建成集团有限公司
主分类号: G01B5/18 分类号: G01B5/18
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 150030 黑龙*** 国省代码: 黑龙江;23
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摘要: 一种用于细长形盲孔零件深度测量的装置,它涉及一种盲孔零件的深度测量装置,以解决普通深度尺,测量批量较大的细长形盲孔零件深度时,效率低,测量范围有限,测量成本高的问题,它包括活动杆和滑套,所述活动杆为阶梯式圆柱形杆,活动杆由下至上主要由端部圆柱、过渡圆柱和刻线圆柱组成,端部圆柱、过渡圆柱和刻线圆柱的直径依次递减;所述的滑套由下至上依次由同轴设置并制成一体的第一圆柱、第二圆柱和第三圆柱构成,滑套的通孔套设在活动杆的刻线圆柱上,刻线圆柱上刻有环形刻线。本发明用于细长形盲孔零件深度的测量。
搜索关键词: 一种 用于 细长 形盲孔 零件 深度 测量 装置
【主权项】:
一种用于细长形盲孔零件深度测量的装置,其特征在于:它包括活动杆(1)和滑套(2),所述活动杆(1)为阶梯式圆柱形活动杆,活动杆(1)由下至上主要由端部圆柱(1‑1)、过渡圆柱(1‑2)和刻线圆柱(1‑3)组成,端部圆柱(1‑1)、过渡圆柱(1‑2)和刻线圆柱(1‑3)的直径依次递减;所述的滑套(2)由下至上依次由同轴设置并制成一体的第一圆柱(2‑1)、第二圆柱(2‑2)和第三圆柱(2‑3)构成,第一圆柱(2‑1)、第二圆柱(2‑2)和第三圆柱(2‑3)的端面中部设置有同轴的通孔(2‑4),滑套(2)的通孔(2‑4)套设在活动杆(1)的刻线圆柱(1‑3)上,且滑套(2)能上下移动,第一圆柱(2‑1)的外径小于或等于被测零件(4)的盲孔的内径,第一圆柱(2‑1)的外径小于第二圆柱(2‑2)的外径且第一圆柱(2‑1)的外侧面与第二圆柱(2‑2)的下端面形成止口(2‑4),第三圆柱(2‑3)的外侧面上加工有长平面(2‑5),长平面(2‑5)上加工有一个长条开口,长平面(2‑5)上刻有水平设置的上刻线(2‑6)和下刻线(2‑7),刻线圆柱(1‑3)上刻有环形刻线(1‑4),上刻线(2‑6)为止口端面距所述端部圆柱(1‑1)的端面为被测零件4的盲孔深度最小设计值时与环形刻线(1‑4)平齐的刻线,下刻线(2‑7)为止口(2‑4)的端面距所述端部圆柱1‑1的端面为被测零件4的盲孔深度最大设计值时与环形刻线1‑4平齐的刻线,环形刻线(1‑4)距端部圆柱(1‑1)的下端面距离为被测零件的盲孔深度的设计尺寸中差值与止口(2‑4)的端面至所述长平面(2‑5)中心距离值的和。
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