[发明专利]一种用于细长形盲孔零件深度测量的装置

说明书

技术领域

本发明涉及一种盲孔零件的深度测量装置，具体涉及一种细长盲孔类零件深度测量装置。

背景技术

零件加工批量较大，用常规的深度尺测量，需要读出测量尺寸，对工人的测量水平有一定的要求，测量效率较低，而且深度尺测量范围有限，测量成本较高。因此，需要设计一种专用于细长形盲孔零件深度测量的装置。

发明内容

本发明的目的是为解决普通深度尺，测量批量较大的细长形盲孔零件深度时，效率低，测量范围有限，测量成本高的问题，进而提供一种用于细长形盲孔零件深度测量的装置。

本发明为解决上述问题采取的技术方案是：本发明的一种用于细长形盲孔零件深度测量的装置包括活动杆和滑套，所述活动杆为阶梯式圆柱形活动杆，活动杆由下至上主要由端部圆柱、过渡圆柱和刻线圆柱组成，端部圆柱、过渡圆柱和刻线圆柱的直径依次递减；

所述的滑套由下至上依次由同轴设置并制成一体的第一圆柱、第二圆柱和第三圆柱构成，第一圆柱、第二圆柱和第三圆柱的端面中部设置有同轴的通孔，滑套的通孔套设在活动杆的刻线圆柱上，且滑套能上下移动，第一圆柱的外径小于或等于被测零件的盲孔的内径，第一圆柱的外径小于第二圆柱的外径且第一圆柱的外侧面与第二圆柱的下端面形成止口，第三圆柱的外侧面上加工有长平面，长平面上加工有一个长条开口，长平面上刻有水平设置的上刻线和下刻线，刻线圆柱上刻有环形刻线，上刻线为止口端面距所述端部圆柱的端面为被测零件的盲孔深度最小设计值时与环形刻线平齐的刻线，下刻线为止口的端面距所述端部圆柱的端面为被测零件的盲孔深度最大设计值时与环形刻线平齐的刻线，环形刻线距端部圆柱的下端面距离为被测零件的盲孔深度的设计尺寸中差值与止口的端面至所述长平面中心距离值的和。

本发明的有益效果是：一、本发明设计原理在滑套上刻有上刻线和下刻线，两条刻线的距离为细长形零件的盲孔的深度公差，活动杆上刻有一条环形刻线，滑套套在活动杆上，滑套相对活动杆移动，滑套上刻线与活动杆刻线对齐表示达到零件最小深度尺寸，滑套下刻线与活动杆刻线对齐表示达到零件最大深度尺寸，测量零件时，活动杆刻线在滑套两刻线范围内表示该零件深度合格；只通过测量装置上的上刻线和下刻线就可以判定零件的盲孔加工深度是否合格，以提高测量效率，满足批量生产要求。

二、本发明结构简单，设计合理，只需用活动杆和滑套，就可以实现对细长形零件盲孔的深度测量，具有测量方便，使用简单，测量范围广，测量成本低，对检验人员技能要求低的优点，测量成本降低了15%。而且，测量效率高，效率提高了20%以上，本发明可以大范围应用和推广。

附图说明

图1是本发明的主视结构示意图，图2是图1的左视图，图3是活动杆的整体结构示意图，图4是滑套的主视结构示意图，图5是图4的左视图，图6是图4的俯视图，图7是本发明用于检测细长形零件的盲孔深度的工作状态示意图。

具体实施方式

具体实施方式一：结合图1-图6说明本实施方式，本实施方式的一种用于细长形盲孔零件深度测量的装置包括活动杆1和滑套2，所述活动杆1为阶梯式圆柱形活动杆，活动杆1由下至上主要由端部圆柱1-1、过渡圆柱1-2和刻线圆柱1-3组成，端部圆柱1-1、过渡圆柱1-2和刻线圆柱1-3的直径依次递减；

所述的滑套2由下至上依次由同轴设置并制成一体的第一圆柱2-1、第二圆柱2-2和第三圆柱2-3构成，第一圆柱2-1、第二圆柱2-2和第三圆柱2-3的端面中部设置有同轴的通孔2-4，滑套2的通孔2-4套设在活动杆1的刻线圆柱1-3上，且滑套2能上下移动，第一圆柱2-1的外径小于或等于被测零件4的盲孔的内径，第一圆柱2-1的外径小于第二圆柱2-2的外径且第一圆柱2-1的外侧面与第二圆柱2-2的下端面形成止口2-4，第三圆柱2-3的外侧面上加工有长平面2-5，长平面2-5上加工有一个长条开口，长平面2-5上刻有水平设置的上刻线2-6和下刻线2-7，刻线圆柱1-3上刻有环形刻线1-4，上刻线2-6为止口端面距所述端部圆柱1-1的端面为被测零件4的盲孔深度最小设计值时与环形刻线1-4平齐的刻线，下刻线2-7为止口2-4的端面距所述端部圆柱1-1的端面为被测零件4的盲孔深度最大设计值时与环形刻线1-4平齐的刻线，环形刻线1-4距端部圆柱1-1的下端面距离为被测零件的盲孔深度的设计尺寸中差值与止口2-4的端面至所述长平面2-5中心距离值的和。

本实施方式的活动杆上的环形刻线热处理要求为HRC58-65。

本实施方式的第一圆柱、第二圆柱和第三圆柱的端面中部设置有同轴的通孔，通孔为等内径的通孔。