[发明专利]用于检测在结构元件试样中材料的特性的检验装置和方法无效

专利信息
申请号: 201380045934.0 申请日: 2013-07-15
公开(公告)号: CN104603625A 公开(公告)日: 2015-05-06
发明(设计)人: 罗伯特·尼切;维尔纳·贝克尔 申请(专利权)人: 西姆弗泰克有限责任公司
主分类号: G01R31/26 分类号: G01R31/26
代理公司: 中原信达知识产权代理有限责任公司 11219 代理人: 车文;张建涛
地址: 德国德*** 国省代码: 德国;DE
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摘要: 一种用于检测包含在至少一个结构元件试样(1)中的至少一种材料的特性的检验装置(100),该检验装置包括测量设备(10),利用该测量设备能在结构元件试样(1)上检测电测量值;并且包括模拟与评价设备(20),该模拟与评价设备被安置用于将如下的模拟函数匹配于电测量值,这些模拟函数包含作为参数的结构元件试样(1)的特征,其中,设置有输出设备(30),该输出设备被安置用于从被匹配的模拟函数中输出材料特性,并且其中,另外设置有控制设备(40),利用该控制设备能依赖于存储的、试样特定的控制函数来控制测量设备(10)和模拟与评价设备(20)中的至少一个。还描述了一种用于检测被包含在至少一个结构元件试样(1)中的材料的特性的方法。
搜索关键词: 用于 检测 结构 元件 试样 材料 特性 检验 装置 方法
【主权项】:
一种用于检测包含在至少一个结构元件试样(1)中的至少一种材料的特性的检验装置(100),所述检验装置包括:‑测量设备(10),利用所述测量设备能在所述结构元件试样(1)上检测电测量值,和‑模拟与评价设备(20),所述模拟与评价设备被安置用于将模拟函数匹配于所述电测量值,所述模拟函数包含作为参数的所述结构元件试样(1)的特性,其中,‑设置有输出设备(30),所述输出设备被安置用于从所述被匹配的模拟函数中输出所述材料特性,其特征在于具有‑控制设备(40),利用所述控制设备能依赖于存储的、试样特定的控制函数来控制所述测量设备(10)和所述模拟与评价设备(20)中的至少一个。
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