[发明专利]利用多相流表征单元体积确定的数字岩石分析系统与方法有效
申请号: | 201380031517.0 | 申请日: | 2013-06-07 |
公开(公告)号: | CN104641259B | 公开(公告)日: | 2017-08-15 |
发明(设计)人: | 朱塞佩·德普里斯科;乔纳斯·托克 | 申请(专利权)人: | 英格染股份有限公司 |
主分类号: | G01V1/40 | 分类号: | G01V1/40 |
代理公司: | 北京安信方达知识产权代理有限公司11262 | 代理人: | 郭红梅,曲鹏 |
地址: | 美国得*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | 岩石与其他材料的孔隙结构可通过电子显微镜来确定,且可经数字仿真以确定流经所述材料的多相流体的特性。为了保存计算资源,这些模拟较佳是对表征单元体积(REV)执行。在部分方法具体实施方式中,可经由从材料的孔度‑基质模型导出孔隙相关参数;确定所述材料的孔隙内的多相分布;将所述孔隙‑基质模型区分为多个相‑基质模型;以及从每一个相‑基质模型导出所述孔度相关参数来确定多相REV的确定值。接着可确定及分析参数对相与饱和度的相关性,以选择适当的REV大小。 | ||
搜索关键词: | 利用 多相 表征 单元 体积 确定 数字 岩石 分析 系统 方法 | ||
【主权项】:
一种数字岩石分析方法,包括:从孔隙‑基质模型导出至少一个孔隙结构参数;确定所述孔隙‑基质模型的孔隙内的多个流体相的分布;基于所述分布,将所述孔隙‑基质模型分为多个相‑基质模型;从每一个所述相‑基质模型导出所述至少一个孔隙结构参数;以及产生所述至少一个孔隙结构参数对所述分布的相关性的表征性。
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