[发明专利]超材料设备及使用该超材料设备的方法有效
| 申请号： | 201380024497.4 | 申请日： | 2013-05-09 |
| 公开（公告）号： | CN104584326B | 公开（公告）日： | 2017-03-08 |
| 发明（设计）人： | 戴维·R·史密斯;戴维·布雷迪;汤姆·德里斯科尔;约翰·亨特;马修·雷诺兹;丹尼尔·马克斯;亚历山大·姆罗扎克 | 申请（专利权）人： | 杜克大学 |
| 主分类号： | H01Q15/00 | 分类号： | H01Q15/00;H01Q3/22;G01S13/89;G01S13/88 |
| 代理公司： | 上海胜康律师事务所31263 | 代理人： | 李献忠 |
| 地址： | 美国北*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 本发明公开了超材料设备和使用该超材料设备的方法。根据一方面，一种用于创建电磁场分配的孔径包括空间场分布。该孔径还包括具有成组的标准特征的矩阵、所捕获的数据、视场、所捕获数据的信噪比、所捕获数据的分辨率、所捕获数据的对比、数据捕获的速率、以及所捕获的数据的质量。 | ||
| 搜索关键词： | 材料 设备 使用 方法 | ||
【主权项】：
一种成像方法，其包括：利用一个或多个照明场图案对场景照明,其中对所述场景进行照明包括利用成组的照明场图案以相应的成组的频率对所述场景进行照明；利用一个或多个测量场图案观测被照明的所述场景，其中所述观测被照明的所述场景包括利用成组的测量场图案以所述相应的成组的频率观测所述场景；以及使用压缩成像算法对所观测的所述场景的图像进行重构；其中所述照明场图案和/或所述测量场图案对应于超材料孔径天线的辐射图案。
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