[实用新型]一种材料反射特性测量装置有效

专利信息
申请号: 201320454517.9 申请日: 2013-07-26
公开(公告)号: CN203337545U 公开(公告)日: 2013-12-11
发明(设计)人: 潘建根 申请(专利权)人: 杭州远方光电信息股份有限公司
主分类号: G01N21/55 分类号: G01N21/55;G01N21/25
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 310053 浙*** 国省代码: 浙江;33
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摘要: 实用新型公开了一种材料反射特性测量装置,包括中空激发源、监测装置和测量装置,中空激发源发出的光线照射到被测样品上,测量装置接收从被测样品反射出的穿过中空激发源空心部分的反射光线,监测装置监测中空激发源发出的光线的光谱信息,通过本实用新型公开的相应的测量方法,可以测量并计算得到被测样品全面的光谱反射特性。本实用新型设计巧妙、光路简单,无需光学暗室,即可实现材料回复反射的光度、色度和光谱特性的快速、准确测量,具有功能强大、测量准确度高、体积小、成本低、设计一体化等特点。
搜索关键词: 一种 材料 反射 特性 测量 装置
【主权项】:
一种材料反射特性测量装置,其特征在于,包括中空激发源(1)、监测装置(2)和测量装置(3),所述测量装置(3)和被测样品(4)分别位于中空激发源(1)两侧,所述的测量装置(3)为光谱辐射计;监测装置(2)接收来自中空激发源(1)的光线,中空激发源(1)发出的光线照射到被测样品(4)上,被测样品(4)反射出的反射光穿过中空激发源(1)空心部分被测量装置(3)所接收。
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