[实用新型]集成电路芯片测试分选系统双通道测试装置有效
| 申请号： | 201320432776.1 | 申请日： | 2013-07-20 |
| 公开（公告）号： | CN203385829U | 公开（公告）日： | 2014-01-08 |
| 发明（设计）人： | 谢名龙;吴成君 | 申请（专利权）人： | 福州方向自动化科技有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 福州元创专利商标代理有限公司 35100 | 代理人： | 蔡学俊 |
| 地址： | 350007 福建省福州*** | 国省代码： | 福建;35 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本实用新型提供一种集成电路芯片测试分选系统双通道测试装置，包括斜置下料槽，所述斜置下料槽上方延伸方向线上设有与斜置下料槽对接的储料管，所述储料管出料端口与下料槽上端口之间设有由往复气缸驱动的用于控制出料的挡杆，斜置下料槽下方的机台上设置有可左右滑移运行的双通道换道机构，下料槽下侧端设置有交叉控制下料槽末端两个芯片下料的手指气缸，所述手指气缸具有挡住末端第一芯片下落的第一手指和用于按住第二芯片的第二手指，所述双通道换道机构下方设置有通往芯片测试工位的导槽，本实用新型结构简单，可控制逐个芯片下料并通过双通道换道机构实现双通道工位测试，自动化程度高，大大提高了芯片的测试效率。 | ||
| 搜索关键词： | 集成电路 芯片 测试 分选 系统 双通道 装置 | ||
【主权项】：
一种集成电路芯片测试分选系统双通道测试装置，包括斜置下料槽，其特征在于，所述斜置下料槽上方延伸方向线上设有与斜置下料槽对接的储料管，所述储料管出料端口与下料槽上端口之间设有由往复气缸驱动的用于控制出料的挡杆，斜置下料槽下方的机台上设置有可左右滑移运行的双通道换道机构，下料槽下侧端设置有交叉控制下料槽末端两个芯片下料的手指气缸，所述手指气缸具有挡住末端第一芯片下落的第一手指和用于按住第二芯片的第二手指，所述双通道换道机构下方设置有通往芯片测试工位的导槽。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于福州方向自动化科技有限公司，未经福州方向自动化科技有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201320432776.1/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：一种显示金属材料晶粒度的方法
- 下一篇：离合器铆钉测试设备
