[实用新型]一种氘氚中子管氘离子束流成份的测量装置有效
| 申请号： | 201320180282.9 | 申请日： | 2013-04-12 |
| 公开（公告）号： | CN203164425U | 公开（公告）日： | 2013-08-28 |
| 发明（设计）人： | 周长庚;柯建林;邱瑞;安力;何铁;胡永宏 | 申请（专利权）人： | 中国工程物理研究院核物理与化学研究所 |
| 主分类号： | G01T1/29 | 分类号： | G01T1/29 |
| 代理公司： | 中国工程物理研究院专利中心 51210 | 代理人： | 翟长明;韩志英 |
| 地址： | 621900 四*** | 国省代码： | 四川;51 |
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| 摘要： | 本实用新型提供了一种氘氚中子管氘离子束流成份的测量装置，本实用新型装置中氚靶位置设置一个与氚靶面积相同的铝膜，与氚靶面积相同的铝片设置于铝膜之后，一对永磁铁环绕设置于铝膜外围，铝膜、铝片分别与第一电阻、第二电阻的一端连接，第一电阻、第二电阻的另一端分别与电源的地线以及示波器连接。本实用新型的测量装置结构简单，操作容易，能够测量在中子管靶附近原位有效的测量氘离子束流成份，离子束不发散，测量准确性较高。本实用新型的设备材料简便，容易制备和购置，同时可以抑制二次电子对测量的影响。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 中子 离子束 成份 测量 装置 | ||
【主权项】：
一种氘氚中子管氘离子束流成份的测量装置，其特征在于，所述的测量装置包括铝膜（1）、铝片（2）、第一永磁铁（3）、第一电阻（4）、示波器（5）、第二永磁铁（6）和第二电阻（7）；其连接关系是，在氚靶位置设置一个与氚靶面积相同的铝膜（1），与氚靶面积相同的铝片（2）置于铝膜（1）后部，第一永磁铁（3）、第二永磁铁（6）环绕设置于铝膜（1）的外围；铝膜（1）、铝片（2）分别与第一电阻（4）、第二电阻（7）的一端连接，第一电阻（4）、第二电阻（7）的另一端分别连接到电源的地线上，第一电阻（4）、第二电阻（7）的另一端还分别与示波器（5）的电压探针连接。
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