[发明专利]一种在透射和反射测量间切换的测光装置

摘要

本发明提供了一种在透射和反射测量间切换的测光装置，包括光源、探测器、透射测量光路组件、反射测量光路组件和样品架组件：样品承载于样品架组件上，样品架组件可带动样品旋转；在装置采用透射测量方式时，透射测量光路组件放置于光源与探测器之间；在装置采用反射测量方式时，反射测量光路组件放置于光源与探测器之间,最终完成两种方式的测量；本发明的测光装置可实现在透射测量状态和反射测量状态之间的快速切换，方便使用；光源、探测器及样品架组件，在两种测量模式下共用，仅替换尽可能少的光路元件，并尽量保持其它部件的方位不变，使产品具有简单可靠，成本低廉的特点。

主权项

一种在透射和反射测量间切换的测光装置，包括光源、探测器、透射测量光路组件、反射测量光路组件和样品架组件，其特征在于：样品承载于样品架组件上，样品架组件可带动样品旋转；在装置采用透射测量方式时，所述透射测量光路组件放置于光源与探测器之间，样品架组件带动样品旋转，使得透射测量光路组件将从光源发出的探测光线聚焦后垂直投射到样品入射面上，探测光线从样品透射后，透射测量光路组件将探测光线准直后输出至所述探测器；在装置采用反射测量方式时，所述反射测量光路组件放置于光源与探测器之间，样品架组件旋转，使得反射测量光路组件将从光源发出的探测光线聚焦后以角度θ投射到样品入射面上，探测光线从样品入射面反射后，反射测量光路组件将探测光线准直后输出至所述探测器，其中，所述角度θ与探测光线在样品入射面的反射率成反比。