[发明专利]磁共振参数成像方法和系统有效
申请号: | 201310654799.1 | 申请日: | 2013-12-05 |
公开(公告)号: | CN103705239A | 公开(公告)日: | 2014-04-09 |
发明(设计)人: | 彭玺;梁栋;刘新;郑海荣 | 申请(专利权)人: | 深圳先进技术研究院 |
主分类号: | A61B5/055 | 分类号: | A61B5/055 |
代理公司: | 广州华进联合专利商标代理有限公司 44224 | 代理人: | 吴平 |
地址: | 518055 广东省深圳*** | 国省代码: | 广东;44 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 一种磁共振参数成像方法,包括以下步骤:采集磁共振仪上磁共振图像序列对应的欠采样信号,欠采样信号为对生物组织进行磁共振参数成像形成的欠采样信号;利用参数图像和质子密度分布函数的稀疏性,通过基于模型的最大后验概率估计求解生物组织的参数图像和质子密度分布函数,所述模型为磁共振图像序列与参数图像和质子密度分布函数之间的关系模型。上述方法直接通过欠采样信号估计生物组织的参数图像和质子密度分布函数,避免了由欠采样重建的磁共振图像估计生物组织参数所引起的误差传递。该方法通过引入参数图像和质子密度分布函数的稀疏性,能够有效地抑制欠采样所带来的图像伪影。此外,还提供一种磁共振参数成像系统。 | ||
搜索关键词: | 磁共振 参数 成像 方法 系统 | ||
【主权项】:
一种磁共振参数成像方法,包括以下步骤:采集磁共振仪上磁共振图像序列对应的欠采样信号,所述欠采样信号为对生物组织进行磁共振参数成像形成的欠采样信号;利用参数图像和质子密度分布函数的稀疏性,通过基于模型的最大后验概率估计求解所述生物组织的参数图像和质子密度分布函数,所述模型为所述磁共振图像序列与所述参数图像和所述质子密度分布函数之间的关系模型。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于深圳先进技术研究院,未经深圳先进技术研究院许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201310654799.1/,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:用于FBX开关柜的电磁连锁装置
- 下一篇:一种水冷电缆加工的开合式模具