[发明专利]基于局部微结构长周期光纤光栅的温度曲率同时测量的方法无效
| 申请号： | 201310555233.3 | 申请日： | 2013-11-11 |
| 公开（公告）号： | CN103557961A | 公开（公告）日： | 2014-02-05 |
| 发明（设计）人： | 曹晔;刘慧莹;裴庸惟;童峥嵘 | 申请（专利权）人： | 天津理工大学 |
| 主分类号： | G01K11/32 | 分类号： | G01K11/32;G01B11/255 |
| 代理公司： | 天津佳盟知识产权代理有限公司 12002 | 代理人： | 侯力 |
| 地址： | 300384 天津市西青*** | 国省代码： | 天津;12 |
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| 摘要： | 一种基于局部微结构长周期光纤光栅（LMSLPFG）的温度曲率（双参量）同时测量的方法。属于光纤传感技术领域。所述LMSLPFG的特点是在栅区的包层区域具有局部缺陷，实际制作时通过质量浓度为20%的氢氟酸对传统长周期光纤光栅（LPFG）进行包层腐蚀来实现，腐蚀程度为在其光谱图中的透射阻带中打开一个透射通带为止。使用LMSLPFG进行传感实验，从研究两个透射阻带和透射通带的温度和弯曲特性出发，找到一个针对该LMSLPFG的敏感矩阵，并根据该敏感矩阵在已知透射阻带以及透射通带的波长改变量的情况下获知LMSLPFG的温度以及弯曲曲率。本发明能够仅用单根LMSLPFG实现对温度和弯曲曲率的同时测量。 | ||
| 搜索关键词： | 基于 局部 微结构 周期 光纤 光栅 温度 曲率 同时 测量 方法 | ||
【主权项】：
一种具有局部微结构的长周期光纤光栅，其特征在于，所述光栅在栅区的包层区域（1）具有环形的局部缺陷。
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