[发明专利]一种计算机层析成像设备和方法有效
申请号: | 201310546294.3 | 申请日: | 2009-05-26 |
公开(公告)号: | CN103584877A | 公开(公告)日: | 2014-02-19 |
发明(设计)人: | 李亮;陈志强;张丽;康克军;李元景;刘以农;邢宇翔;赵自然 | 申请(专利权)人: | 清华大学;同方威视技术股份有限公司 |
主分类号: | A61B6/03 | 分类号: | A61B6/03;A61B6/06 |
代理公司: | 中国专利代理(香港)有限公司 72001 | 代理人: | 刘鹏;汪扬 |
地址: | 10008*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 本发明公开了一种对被检测对象的感兴趣区域进行CT成像的方法,包括步骤:获取所述感兴趣区域的CT投影数据;获取B区域的CT投影数据;选择一组覆盖所述感兴趣区域的PI线段,并且为所述PI线段组中的每条PI线段计算其上的重建图像值;然后组合所述PI线段组中的所有PI线段上的重建图像值而得到所述感兴趣区域的图像。本发明还公开了采用该方法的CT成像设备及其中的数据处理单元。由于只需要X射线束覆盖感兴趣区域和B区域即能够精确重建获得该感兴趣区域的二维/三维断层图像,因此可以使用较小尺寸的探测器实现大尺寸物体任意位置感兴趣区域的CT成像,这能够大大降低CT扫描过程中的X射线辐射剂量。 | ||
搜索关键词: | 一种 计算机 层析 成像 设备 方法 | ||
【主权项】:
一种对被检测对象的感兴趣区域进行CT成像的方法,包括步骤:同时获取所述感兴趣区域的CT投影数据和B区域的CT投影数据,其中所述B区域的至少一部分位于所述被检测对象的支撑之外,而且所述B区域被选为使得能够选择一组覆盖所述感兴趣区域的PI线段,其中每条经过所述感兴趣区域的PI线段均通过B区域;以及根据所述感兴趣区域的CT投影数据和所述B区域的CT投影数据来重建所述感兴趣区域的CT投影数据。
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