[发明专利]检测复杂导电结构表面缺陷的涡流阵列探头及系统有效
| 申请号： | 201310446770.4 | 申请日： | 2013-09-26 |
| 公开（公告）号： | CN103487502A | 公开（公告）日： | 2014-01-01 |
| 发明（设计）人： | 张思全;刘雨;尹畅;齐川 | 申请（专利权）人： | 上海海事大学 |
| 主分类号： | G01N27/90 | 分类号： | G01N27/90 |
| 代理公司： | 上海三和万国知识产权代理事务所(普通合伙) 31230 | 代理人： | 陈伟勇 |
| 地址： | 201306 上海市*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明公开了检测复杂导电结构表面缺陷的涡流阵列探头及系统，检测复杂导电结构表面缺陷的涡流阵列探头，由多个涡流探头组成，所述的多个涡流探头按横向和纵向排列成网格状；相邻的两个涡流探头之间设有机械弹性结构；在每一个涡流探头的底端朝向被检测物表面的一面安装有激励线圈及感测器，在激励线圈及感测器周围非发射或接收方向都设置有屏蔽层；本发明可以检测复杂导电结构表面缺陷的存在，并可根据信号特征判断其数量、方向及长、宽、深度等形状信息。 | ||
| 搜索关键词： | 检测 复杂 导电 结构 表面 缺陷 涡流 阵列 探头 系统 | ||
【主权项】：
检测复杂导电结构表面缺陷的涡流阵列探头，由多个涡流探头组成，其特征在于：所述的多个涡流探头按横向和纵向排列成网格状；相邻的两个涡流探头之间设有机械弹性结构；在每一个涡流探头的底端朝向被检测物表面的一面安装有激励线圈及感测器，在激励线圈及感测器周围非发射或接收方向都设置有屏蔽层。
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