[发明专利]用于进行样品分析的测试方法、测试装置和测试设备有效

专利信息
申请号: 201310392160.0 申请日: 2013-09-02
公开(公告)号: CN104422745A 公开(公告)日: 2015-03-18
发明(设计)人: 王文祥;孙枫;徐宏坤;李建辉;李玮明;周慧;张江锋;张锡娅 申请(专利权)人: 中国石油天然气股份有限公司
主分类号: G01N30/86 分类号: G01N30/86
代理公司: 北京三高永信知识产权代理有限责任公司 11138 代理人: 刘映东
地址: 100007 北京市*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明公开了一种用于进行样品分析的测试方法、测试装置和测试设备,属于石油化工领域。测试方法包括:获取待测试样品的GC-FID谱图和GC-MS谱图,所述GC-FID谱图包括各个色谱峰在GC-FID谱图上的保留时间,所述GC-MS谱图包括各个色谱峰在GC-MS谱图上的保留时间;根据所述待测试样品各个色谱峰在GC-MS谱图上的保留时间,结合预设公式,计算待测试样品各个色谱峰在GC-FID谱图上的预测保留时间;根据所述待测试样品各个色谱峰在GC-FID谱图上的预测保留时间,确定GC-FID谱图上与GC-MS谱图上各个色谱峰对应关系;记录在GC-FID谱图上已确定对应关系的色谱峰的峰面积;根据各个组分对应的峰面积,计算各个组分的实际含量。本发明通过将定性和定量数据结合在一起,从而获得对样品的测试结果。
搜索关键词: 用于 进行 样品 分析 测试 方法 装置 设备
【主权项】:
一种用于进行样品分析的测试方法,其特征在于,包括:获取待测试样品的GC‑FID谱图和GC‑MS谱图,所述GC‑FID谱图包括各个色谱峰在GC‑FID谱图上的保留时间,所述GC‑MS谱图包括各个色谱峰在GC‑MS谱图上的保留时间;根据所述待测试样品各个色谱峰在GC‑MS谱图上的保留时间,结合预设公式,计算待测试样品各个色谱峰在GC‑FID谱图上的预测保留时间;根据所述待测试样品各个色谱峰在GC‑FID谱图上的预测保留时间,确定GC‑FID谱图上与GC‑MS谱图上各个色谱峰对应关系;记录在GC‑FID谱图上已确定对应关系的色谱峰的峰面积;根据各个组分对应的峰面积,计算各个组分的实际含量。
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