[发明专利]磁共振断层成像系统的高频发射装置的控制方法

摘要

本发明描述了一种用于控制磁共振断层成像系统（1）的高频发射装置（10）的方法，该高频发射装置具有带有多个发射通道（K₁,K₂,...,K_n）的发射天线系统（15），其中在发射天线系统的不同发射通道上分别在不同时刻输出参考发射信号（RS），并且在其它发射通道中的至少一个上，借助与该发射通道关联的测量装置（30₁,30₂,...,30_n）测量由参考发射信号引发的参考测量信号（RM₁,RM₂,...,RM_n）。然后基于参考测量信号确定相位偏差指示值（PAI），其指示在所涉及的发射通道的测量装置之间的相对相位偏差。此外，描述了一种用于高频控制装置（100）的相位偏差控制单元（240）、高频控制装置、高频发射装置、和磁共振断层成像系统。

主权项

一种用于控制磁共振断层成像系统（1）的高频发射装置（10）的方法，所述高频发射装置（10）具有带有多个发射通道（K₁,K₂,...,K_n）的发射天线系统（15），‑其中，在所述发射天线系统（15）的不同发射通道（K₁,K₂,...,K_n）上分别在不同时刻输出参考发射信号（RS），并且分别在其它发射通道（K₁,K₂,...,K_n）中的至少一个上，借助与该发射通道（K₁,K₂,...,K_n）关联的测量装置（30₁,30₂,...,30_n）测量由所述参考发射信号（RS）引发的参考测量信号（RM₁,RM₂,...,RM_n），‑并且基于所述参考测量信号（RM₁,RM₂,...,RM_n）确定相位偏差指示值（PAI），所述相位偏差指示值指示在所涉及的发射通道（K₁,K₂,...,K_n）的测量装置（30₁,30₂,...,30_n）之间的相对相位偏差。