[发明专利]一种用于数字高程模型的超分辨率方法及其系统有效

专利信息
申请号: 201310328588.9 申请日: 2013-07-31
公开(公告)号: CN103455709A 公开(公告)日: 2013-12-18
发明(设计)人: 侯文广;李柳;王学文;丁明跃;张旭明;尉迟明 申请(专利权)人: 华中科技大学
主分类号: G06F19/00 分类号: G06F19/00
代理公司: 华中科技大学专利中心 42201 代理人: 朱仁玲
地址: 430074 湖北*** 国省代码: 湖北;42
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摘要: 发明公开了一种数字高程模型DEM超分辨率的方法,包括:建立高分辨率DEM与低分辨率DEM的位置映射,对每一个低分辨率DEM测试区的子区域在低分辨率DEM搜索区进行相似块查找与相似性估计,选取相似性最高的一系列子区域作为相似块,将查找到的一系列相似块映射回高分辨率DEM实测区,将这些对应的高分辨率DEM实测区子区域块按其对应的相似权重相加得到一个新的子区域,将上述超分辨率后的高分辨率DEM缺失区的子区域拼接起来,加上高分辨率DEM实测区已有的数据就为一个完整的高分辨率DEM。通过本发明,减少了户外作业的工作量,有效地控制了成本,相对于基于不确定分析的方法而言,增加了DEM的应用精度。
搜索关键词: 一种 用于 数字 高程 模型 分辨率 方法 及其 系统
【主权项】:
一种数字高程模型DEM超分辨率的方法,其特征在于,用于根据全局低分辨率DEM数据以及测量得到的部分高分辨率DEM数据重建全局高分辨率DEM数据,所述全局高分辨率DEM数据包括测量得到的部分高分辨率DEM数据以及待超分辨率的高分辨率DEM区域,所述方法包括以下步骤: (1)建立高分辨率DEM与低分辨率DEM的位置映射;将测量得到的高分辨率DEM区域定义为实测区,待超分辨率的高分辨率DEM区域定义为缺失区,将高分辨率DEM实测区对应的低分辨率DEM区域定义为搜索区,将高分辨率DEM缺失区对应的低分辨率DEM区域定义为测试区; (2)将高分辨率DEM缺失区分为一系列相互重叠的子区域,对应的低分辨率DEM测试区也分为一系列相互重叠的子区域; (3)对每一个低分辨率DEM测试区的子区域在低分辨率DEM搜索区进行相似块查找与相似性估计,选取相似性最高的一系列子区域作为相似块,同时计算出每个相似块对应的相似权重; (4)将步骤(3)中查找到的一系列相似块映射回高分辨率DEM实测区,将这些相似块对应的高分辨率DEM实测区子区域按其对应的相似权重相加得到一个新的子区域,即为超分辨率后的高分辨率DEM缺失区相对应位置的子区域; (5)将步骤(4)中超分辨率后的高分辨率DEM缺失区的子区域拼接起来,重叠部取均值即得到高分辨率DEM缺失区整体的超分辨率结果,加上高分辨率DEM实测区已有的数据就为一个全局高分辨率DEM。
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