[发明专利]一种局域背面钝化晶体硅电池的制备方法无效
申请号: | 201310299820.0 | 申请日: | 2013-07-17 |
公开(公告)号: | CN103413860A | 公开(公告)日: | 2013-11-27 |
发明(设计)人: | 姬常晓;刘文峰;成文 | 申请(专利权)人: | 湖南红太阳光电科技有限公司 |
主分类号: | H01L31/18 | 分类号: | H01L31/18;C23C16/34 |
代理公司: | 长沙正奇专利事务所有限责任公司 43113 | 代理人: | 马强 |
地址: | 410205 湖南省*** | 国省代码: | 湖南;43 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本发明公开了一种局域背面钝化晶体硅电池的制备方法,该方法先在硅片背面经抛光后制备致密的Al2O3和SiNx双层叠层钝化膜,并退火处理获得较好的钝化性能,取代常规铝背场P+层的场钝化方式;在镀正面SiNx膜前,采用恰当浓度酸性清洗液清洗,提高前表面的钝化效果;然后在电池背面按照设计好的图形开膜,制备出电极局域接触窗口;最后印刷铝浆使铝浆填充进电极窗口,通过烧结形成接触效果较好的铝硅合金背电极。本发明制备的电池可以提高背面钝化效应和光的内背反射率,即提高开路电压和短路电流,从而提高电池效率。 | ||
搜索关键词: | 一种 局域 背面 钝化 晶体 电池 制备 方法 | ||
【主权项】:
一种局域背面钝化晶体硅电池的制备方法,其特征是,具体步骤为: (1)选用P型单晶硅片作衬底,在衬底上制绒,然后在硅片正面和背面制备P‑N结;(2)采用碱性腐蚀液去除背面P‑N结的同时实现背面抛光;(3)在硅片背面镀5 nm~30nm 厚的三氧化二铝钝化膜,对镀膜后的硅片经400℃~600℃的高温退火处理20 min~60min,实现背面钝化; (4)在硅片的三氧化二铝膜层上镀氮化硅膜,所述氮化硅膜厚度为100 nm~180nm;(5)将镀有三氧化二铝和氮化硅双层钝化膜后的硅片在质量分数为0.5%~1.5%的HF溶液中清洗5S~20S,然后在硅片正面镀氮化硅减反射膜,所述氮化硅减反射膜的膜层厚度为60nm‑90nm;(6)采用激光器按照设定好的线状开膜图形开膜; (7)按顺序依次印刷背电极、铝浆和银浆,在烧结炉中烧结,形成铝硅合金层;所述烧结炉的烧结温度为840℃~860℃。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于湖南红太阳光电科技有限公司,未经湖南红太阳光电科技有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201310299820.0/,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 同类专利
- 专利分类
H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L31-00 对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射,或微粒辐射敏感的,并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或者专门适用于通过这样的辐射进行电能控制的半导体器件;专门适用于制造或处理这些半导体器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半导体本体为特征的
H01L31-04 .用作转换器件的
H01L31-08 .其中的辐射控制通过该器件的电流的,例如光敏电阻器
H01L31-12 .与如在一个共用衬底内或其上形成的,一个或多个电光源,如场致发光光源在结构上相连的,并与其电光源在电气上或光学上相耦合的
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L31-00 对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射,或微粒辐射敏感的,并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或者专门适用于通过这样的辐射进行电能控制的半导体器件;专门适用于制造或处理这些半导体器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半导体本体为特征的
H01L31-04 .用作转换器件的
H01L31-08 .其中的辐射控制通过该器件的电流的,例如光敏电阻器
H01L31-12 .与如在一个共用衬底内或其上形成的,一个或多个电光源,如场致发光光源在结构上相连的,并与其电光源在电气上或光学上相耦合的