[发明专利]X光定位检测装置及定位检测方法有效
| 申请号： | 201310283111.3 | 申请日： | 2013-07-05 |
| 公开（公告）号： | CN103424415A | 公开（公告）日： | 2013-12-04 |
| 发明（设计）人： | 温亚珍;丁志平;沈天明;陈嘉敏;李维姣;常青青 | 申请（专利权）人： | 公安部第三研究所 |
| 主分类号： | G01N23/04 | 分类号： | G01N23/04;A61B6/08;A61B6/00 |
| 代理公司： | 上海天翔知识产权代理有限公司 31224 | 代理人： | 刘粉宝 |
| 地址： | 200031*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明公开了X光定位检测装置及定位检测方法，本发明利用X光打在探测器中心位置对应的若干检测点上，并由同一比对片在若干检测点上形成对应的X图像，判断若干检测点处同一比对片所成图像是否位置相同以及图像是否对称来判断若干检测点的光是否在同一平面上，由此完成X光定位检测。利用本发明提供的方案能够在X射线成像系统组装过程中安装X光源时，及时的发现X光源安装所存在的问题，并能够清晰实现X光源安装所存在的问题，便于及时精确的调整，避免后期的整体返工。 | ||
| 搜索关键词： | 定位 检测 装置 方法 | ||
【主权项】：
X光定位检测装置，其特征在于，所述检测装置包括：支架，所述支架上设置有与X射线成像系统中探测器上若干探测点相对应的检测点；若干相同的比对片，所述比对片对应设置在支架上的若干检测点上，并在待检测X光的照射下分别形成对应的X光图像；探测成像单元，所述探测成像单元获取若干比对片所成的X光图像，并通过判断所有图像位置是否相同，图案是否对称来判断比对片对应检测点是否处于同一平面。
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