[发明专利]测试数据的处理装置有效

专利信息
申请号: 201310282834.1 申请日: 2013-07-05
公开(公告)号: CN104281763B 公开(公告)日: 2019-08-23
发明(设计)人: 朱佳军;袁耀明 申请(专利权)人: 上海联影医疗科技有限公司
主分类号: G16H30/20 分类号: G16H30/20;G16H15/00
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 201815 上海*** 国省代码: 上海;31
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摘要: 一种测试数据的处理装置,包括:获取单元,适于获取至少两组数据记录,所述数据记录包括若干测试项及其测试数据;筛选单元,适于在接收到数据比对请求后,从所述至少两组数据记录中筛选出具有相同属性的测试项,所述属性包括名称、标识和类型中的至少一种;处理单元,适于提取所述筛选单元筛选出的测试项对应在所述至少两组数据记录中的测试数据并进行处理。本发明提供的测试数据的处理装置提高了测试数据的比对效率和比对结果的准确性。
搜索关键词: 测试数据 处理 装置
【主权项】:
1.一种测试数据的处理装置,其特征在于,包括:获取单元,适于获取磁共振系统的至少两组数据记录,所述数据记录包括若干测试项及其测试数据;筛选单元,在接收到数据比对请求后,从所述至少两组数据记录中筛选出具有相同属性的测试项,所述属性包括名称、标识和类型中的至少一种;处理单元,适于提取所述筛选单元筛选出的测试项对应在所述至少两组数据记录中的测试数据并进行处理;所述至少两组数据记录包括一组预设的基准数据记录和至少一组测试数据记录,所述测试数据记录是通过对被测对象进行测试而得到的,所述预设的基准数据记录为在一段时间内获取的处于正常状态的磁共振成像系统的多组测试数据中出现频率最高的测试数据;所述处理单元还包括分析单元,适于根据测试项对应在所述基准数据记录和测试数据记录中的测试数据进行系统分析,以排查所述磁共振系统的系统故障;所述根据测试项对应在所述基准数据记录和测试数据记录中的测试数据进行系统分析,以排查所述磁共振系统的系统故障包括:根据测试项对应在所述基准数据记录和测试数据记录中的多组测试数据生成变化曲线;获取相邻两次之间所述变化曲线的斜率;分析所述斜率的差异,以判断磁共振系统的工作是否正常。
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