[发明专利]受光元件无效
申请号: | 201310258404.6 | 申请日: | 2010-07-21 |
公开(公告)号: | CN103426966A | 公开(公告)日: | 2013-12-04 |
发明(设计)人: | 秋田胜史;石塚贵司;藤井慧;永井阳一 | 申请(专利权)人: | 住友电气工业株式会社 |
主分类号: | H01L31/101 | 分类号: | H01L31/101;H01L31/18 |
代理公司: | 中原信达知识产权代理有限责任公司 11219 | 代理人: | 苏卉;车文 |
地址: | 日本大阪*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | 本发明提供一种可减少暗电流的受光元件,其具备衬底、受光层、扩散浓度分布调整层及窗层,受光层设置在衬底与扩散浓度分布调整层之间,扩散浓度分布调整层设置在受光层与窗层之间,包含窗层及扩散浓度分布调整层的半导体区域包含沿着与受光层的接合面依次配置的第一及第二区域,第一区域含有规定的杂质元素且与第二区域邻接,第一区域的导电型为p型,自窗层与扩散浓度分布调整层的接合面在第二区域中朝上述窗层内或扩散浓度分布调整层内延伸的规定区域内的n型载体浓度的最大值在5×1015cm-3以上、1×1019cm-3以下的范围内。 | ||
搜索关键词: | 元件 | ||
【主权项】:
一种受光元件,其特征在于,具备:衬底,包含III‑V族半导体;受光层,设置在上述衬底上;扩散浓度分布调整层,与上述受光层邻接而设置,包含III‑V族半导体;及窗层,与上述扩散浓度分布调整层邻接而设置,具有大于上述扩散浓度分布调整层的带隙能,包含III‑V族半导体,上述受光层设置在上述衬底与上述扩散浓度分布调整层之间,上述扩散浓度分布调整层设置在上述受光层与上述窗层之间,包含上述窗层及上述扩散浓度分布调整层的半导体区域包含沿着与上述受光层的接合面依次配置的第一及第二区域,上述第一区域含有规定的杂质元素且与上述第二区域邻接,上述第一区域的导电型为p型,自上述窗层与上述扩散浓度分布调整层的接合面在上述第二区域中朝上述窗层内或上述扩散浓度分布调整层内延伸的规定区域内的n型载体浓度的最大值在5×1015cm‑3以上、1×1019cm‑3以下的范围内。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L31-00 对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射,或微粒辐射敏感的,并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或者专门适用于通过这样的辐射进行电能控制的半导体器件;专门适用于制造或处理这些半导体器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半导体本体为特征的
H01L31-04 .用作转换器件的
H01L31-08 .其中的辐射控制通过该器件的电流的,例如光敏电阻器
H01L31-12 .与如在一个共用衬底内或其上形成的,一个或多个电光源,如场致发光光源在结构上相连的,并与其电光源在电气上或光学上相耦合的
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L31-00 对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射,或微粒辐射敏感的,并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或者专门适用于通过这样的辐射进行电能控制的半导体器件;专门适用于制造或处理这些半导体器件或其部件的方法或
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