[发明专利]四分之一波片相位延迟量的测量装置和测量方法有效
| 申请号： | 201310250418.3 | 申请日： | 2013-06-21 |
| 公开（公告）号： | CN103335821A | 公开（公告）日： | 2013-10-02 |
| 发明（设计）人： | 曾爱军;邓柏寒;刘龙海;朱玲琳;黄惠杰 | 申请（专利权）人： | 中国科学院上海光学精密机械研究所 |
| 主分类号： | G01M11/02 | 分类号： | G01M11/02 |
| 代理公司： | 上海新天专利代理有限公司 31213 | 代理人： | 张泽纯 |
| 地址： | 201800 上海*** | 国省代码： | 上海;31 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 一种四分之一波片相位延迟量的测量装置和测量方法，该装置由准直光源、圆起偏器、光弹调制器、圆检偏器、光电探测器、光弹控制器、锁相放大器和计算机组成。本发明只需一个光弹调制器即可测量四分之一波片的相位延迟量，只需要一个锁相放大器，装置简单，结构紧凑，操作方便。 | ||
| 搜索关键词： | 四分之一 相位 延迟 测量 装置 测量方法 | ||
【主权项】：
一种四分之一波片相位延迟量的测量装置，其特征在于该装置由准直光源（1）、圆起偏器（2）、光弹调制器（3）、圆检偏器（5）、光电探测器（6）、光弹控制器（7）、锁相放大器（8）和计算机（9）组成，上述元部件的位置关系如下：沿所述的准直光源（1）出射的光束前进方向依次是所述的圆起偏器（2）、光弹调制器（3）、圆检偏器（5）和光电探测器（6），在所述的光弹调制器（3）和圆检偏器（5）之间设有待测波片（4）的插口。所述的光弹控制器（7）的第一输出端接所述的光弹调制器（3）的控制端，所述的光弹控制器（7）的第二输出端接所述的锁相放大器（8）的参考信号输入端，所述的光电探测器（6）的输出端接所述的锁相放大器（8）的信号输入端，所述的锁相放大器（8）的信号输出端通过串口接入所述的计算机（9），该计算机（9）安装有与所述的锁相放大器（8）配套的Signaloc2100数据采集程序，该Signaloc2100数据采集程序用于采集锁相放大器（8）输出信号的直流分量和二次谐波分量。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国科学院上海光学精密机械研究所，未经中国科学院上海光学精密机械研究所许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201310250418.3/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：一种组合式犁扒装置
- 下一篇：基于工程搬运车辆的红外测距定位装置
