[发明专利]一种太阳能硅片检测系统及方法在审
| 申请号： | 201310245813.2 | 申请日： | 2013-06-19 |
| 公开（公告）号： | CN104237243A | 公开（公告）日： | 2014-12-24 |
| 发明（设计）人： | 钟小龙;贾淳 | 申请（专利权）人： | 苏州矽微电子科技有限公司 |
| 主分类号： | G01N21/88 | 分类号： | G01N21/88;G01N21/64 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 215121 江*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种太阳能硅片检测系统，包括依次连接的上料单元、PL模组、CCD外观检测单元、分选机构和下料单元，所述上料单元包括两个机械臂及设置在机械臂端部的真空吸盘，CCD外观检测单元包括传送带及设置在传送带上的线阵CCD，所述分选机构包括传送带及设置在传送带上的左、右分料装置。其检测稳定，数据传输速度较快。并且能快速自动将硅片分拣。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 太阳能 硅片 检测 系统 方法 | ||
【主权项】：
一种太阳能硅片检测系统，其特征在于，包括依次连接的上料单元、PL模组、CCD外观检测单元、分选机构和下料单元，所述上料单元包括两个机械臂及设置在机械臂端部的真空吸盘，CCD外观检测单元包括传送带及设置在传送带上的线阵CCD，所述分选机构包括传送带及设置在传送带上的左、右分料装置。
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