[发明专利]一种Si纳米线阵列的制备方法无效

专利信息
申请号: 201310232302.7 申请日: 2013-06-13
公开(公告)号: CN103337455A 公开(公告)日: 2013-10-02
发明(设计)人: 何海平;甘露;孙陆威;叶志镇 申请(专利权)人: 浙江大学
主分类号: H01L21/306 分类号: H01L21/306;H01L21/28;C01B33/021;B82Y40/00
代理公司: 杭州求是专利事务所有限公司 33200 代理人: 韩介梅
地址: 310027 浙*** 国省代码: 浙江;33
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摘要: 发明公开的Si纳米线阵列的制备方法,采用的是金属辅助化学刻蚀法,以氢氟酸和硝酸银混合配制成反应液I,氢氟酸与双氧水混合配制成反应液II,重掺(100)型硅片通过在反应液I和反应液II两步反应,在重掺(100)硅片上刻蚀得到Si纳米线阵列。本发明制备方法方便易行,Si纳米线长度、载流子浓度可控性优异,稳定性良好,可获得波长可调的中红外表面等离激元共振。适于大批量生产。
搜索关键词: 一种 si 纳米 阵列 制备 方法
【主权项】:
一种Si纳米线阵列的制备方法,包括以下步骤:1)将重掺(1 0 0)型硅片用RCA方法清洗后,放入质量浓度97%的硫酸和质量浓度30%的双氧水按体积比为3:1的混合液中,浸泡至少10 min,用去离子水冲洗,再放入体积浓度10%的氢氟酸缓冲液中浸泡至少3 min;2)将氢氟酸和硝酸银混合,配制成反应液I,氢氟酸的浓度为4.65 mol/L,硝酸银的浓度为0.02 mol/L;将氢氟酸与双氧水混合,配制成反应液II,氢氟酸的浓度为4.65 mol/L,双氧水浓度为0.5 mol/L;3)将经步骤1)处理的硅片抛光面朝上水平放入反应液I中,浸泡1 min取出,用去离子水冲洗后放入反应液II中,反应30~90 min后,在硅片上形成Si纳米线阵列,将其从反应液Ⅱ中取出,放入质量浓度为30%的硝酸溶液中,浸泡至少1 h,去除Si纳米线阵列表面的金属银颗粒,用去离子水反复冲洗,干燥。
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