[发明专利]一种磁控溅射CdTe多晶薄膜太阳能电池的制备方法在审

专利信息
申请号: 201310053822.1 申请日: 2013-02-19
公开(公告)号: CN103996609A 公开(公告)日: 2014-08-20
发明(设计)人: 李辉;刘向鑫 申请(专利权)人: 中国科学院电工研究所
主分类号: H01L21/203 分类号: H01L21/203;H01L31/18
代理公司: 北京科迪生专利代理有限责任公司 11251 代理人: 关玲
地址: 100190 *** 国省代码: 北京;11
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摘要: 一种磁控溅射CdTe多晶薄膜太阳能电池的制备方法,其特征在于:在基底的透明导电多晶薄膜上生长CdS多晶薄膜,停止加热,然后在真空条件下对生长完成后的CdS多晶薄膜进行降温、再升温或者加热保持、或再升温降温的过程,多晶薄膜多晶薄膜再在所制备的CdS多晶薄膜上溅射CdTe多晶薄膜。之后在CdCl2气氛中对所制备的CdS多晶薄膜和CdTe多晶薄膜进行退火处理;最后在经退火处理后的CdTe多晶薄膜上蒸镀导电背电极。
搜索关键词: 一种 磁控溅射 cdte 多晶 薄膜 太阳能电池 制备 方法
【主权项】:
一种磁控溅射CdTe多晶薄膜太阳能电池的制备方法,其特征是,所述的制备方法步骤如下:1)在磁控溅射炉放置基底的位置上放置具有透明导电薄膜的基底,通过导电的固定基底的探针,使基底的透明导电薄膜和外加电压设备相连;然后关闭磁控溅射炉的真空室,对所述的真空室抽真空,并对基底加热;2)当真空室背底真空到达10‑3Pa以下,所述的基底温度达到25℃‑1100℃,开始在具有透明导电多晶薄膜的基底上溅射CdS多晶薄膜;当CdS多晶薄膜的厚度达到20nm‑500nm时,停止生长CdS多晶薄膜;然后对生长完成的CdS多晶薄膜在25℃‑1100℃温度范围下保持1min‑72h,或者停止对基底加热,使CdS多晶薄膜降温到室温,然后在室温下保持0‑72h;之后,把基底的位置转移到正对CdTe靶的位置,启动射频电源开始溅射CdTe多晶薄膜,对基片施加偏压+8.8V—‑100V;当CdTe多晶薄膜的厚度达到0.5μm‑10μm时,关闭外加电源停止对基片的偏压,同时关闭射频电源,停止CdTe多晶薄膜的生长,停止对基底加热,使生长了CdS多晶薄膜和CdTe多晶薄膜的基底随炉冷却,然后取出生长了CdS多晶薄膜和CdTe多晶薄膜的基底;3)对步骤2制备的CdS和CdTe多晶薄膜进行CdCl2退火处理;4)在经CdCl2退火处理后的CdTe多晶薄膜表面蒸镀导电背电极。
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