[发明专利]校准方法、校准设备和测量设备有效
| 申请号： | 201310050706.4 | 申请日： | 2013-02-08 |
| 公开（公告）号： | CN103256954A | 公开（公告）日： | 2013-08-21 |
| 发明（设计）人： | 伊沃特·布兰德斯玛;马丁·克里斯蒂安·佩宁;艾利·阿莫尔·边赫迪;蒂莫·范雷蒙德 | 申请（专利权）人： | NXP股份有限公司 |
| 主分类号： | G01D18/00 | 分类号： | G01D18/00 |
| 代理公司： | 中科专利商标代理有限责任公司 11021 | 代理人： | 王波波 |
| 地址： | 荷兰艾*** | 国省代码： | 荷兰;NL |
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| 摘要： | 根据本发明的一个方面，构想了一种用于校准测量设备的方法，其中：使校准设备接近所述测量设备，使得在所述测量设备与所述校准设备之间建立数据通信链路；其中在所述校准设备与所述测量设备彼此接近的同时执行下述步骤：所述校准设备执行至少一种物理现象的测量；所述测量设备执行相同物理现象的测量；将所述测量设备的测量结果与所述校准设备的测量结果进行比较；以及基于所述测量设备的测量结果与所述校准设备的测量结果之间的差异计算校准参数。 | ||
| 搜索关键词： | 校准 方法 设备 测量 | ||
【主权项】：
一种用于校准测量设备(100)的方法，其中：使校准设备(124)与所述测量设备(100)接近，使得将所述校准设备(124)和所述测量设备(100)暴露到相同的物理环境，并且使得在所述测量设备(100)与所述校准设备(124)之间建立数据通信链路；其中在使所述校准设备(124)与所述测量设备(100)暴露到相同的物理环境的同时执行以下步骤：所述校准设备(124)执行至少一种物理现象的测量；所述测量设备(100)执行相同物理现象的测量；将所述测量设备(100)的测量结果与所述校准设备(124)的测量结果进行比较；基于所述测量设备(100)的测量结果与所述校准设备(124)的测量结果之间的差异计算校准参数。
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