[发明专利]电容拓扑结构及集成电路有效

专利信息
申请号: 201310034149.7 申请日: 2013-01-29
公开(公告)号: CN103579222A 公开(公告)日: 2014-02-12
发明(设计)人: 陆波 申请(专利权)人: 中国科学院高能物理研究所
主分类号: H01L27/02 分类号: H01L27/02;H01L23/522
代理公司: 北京市惠诚律师事务所 11353 代理人: 雷志刚;潘士霖
地址: 100049 北京*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明提出一种电容拓扑结构及集成电路,其中电容拓扑结构包括多个电容单元,电容单元包括位于中央的正N边形MIM电容以及围绕在正N边形MIM电容周围的侧壁电容,侧壁电容包括中央镂空的多层第一金属层,镂空部分的形状与正N边形MIM电容的形状相适配,多层第一金属层之间通过第一过孔相连,采用正N边形MIM电容,周围围绕侧壁电容,使正N边形MIM电容每条边的环境一致,在集成电路版图面积相同的情况下,可提高多个MIM电容之间的匹配度,节约版图面积,提高紧凑度。
搜索关键词: 电容 拓扑 结构 集成电路
【主权项】:
一种电容拓扑结构,其特征在于,包括多个电容单元,所述电容单元包括位于中央的正N边形MIM电容以及围绕在所述正N边形MIM电容周围的侧壁电容,所述侧壁电容包括中央镂空的多层第一金属层,镂空部分的形状与所述正N边形MIM电容的形状相适配,多层第一金属层之间通过第一过孔相连。
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