[发明专利]石英晶片尺寸与缺陷视觉检测装置有效
| 申请号： | 201310022826.3 | 申请日： | 2013-01-22 |
| 公开（公告）号： | CN103090795A | 公开（公告）日： | 2013-05-08 |
| 发明（设计）人： | 唐劲;张帮岭 | 申请（专利权）人： | 铜陵晶越电子有限公司 |
| 主分类号： | G01B11/00 | 分类号： | G01B11/00;G01B11/02;G01N21/88 |
| 代理公司： | 铜陵市天成专利事务所 34105 | 代理人： | 马元生 |
| 地址： | 244000 安徽省铜*** | 国省代码： | 安徽;34 |
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| 摘要： | 本发明公开了石英晶片尺寸与缺陷视觉检测装置，它包括依次设在检测平台上的晶片承载装置、晶片检测段（1）、晶片收取装置和晶片拾取装置，所述晶片拾取装置从所述晶片承载装置内拾取晶片并移动至所述晶片检测段内进行检测，根据检测结果晶片拾取装置把晶片投入晶片收取装置内。本发明的有益效果是使整个检测石英晶片的流程由机械完成，提高了检测速度，消除了人工误差，减少了误判，提高了工作效率。 | ||
| 搜索关键词： | 石英 晶片 尺寸 缺陷 视觉 检测 装置 | ||
【主权项】：
石英晶片尺寸与缺陷视觉检测装置，其特征是它包括依次设在检测平台上的晶片承载装置、晶片检测段（1）、晶片收取装置和晶片拾取装置，所述晶片拾取装置从所述晶片承载装置内拾取晶片并移动至所述晶片检测段内进行检测，晶片拾取装置根据检测结果把晶片投入晶片收取装置内。
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