[发明专利]一种探测固体材料表面及亚表面光学吸收的方法及装置无效
申请号: | 201310021062.6 | 申请日: | 2013-01-21 |
公开(公告)号: | CN103115900A | 公开(公告)日: | 2013-05-22 |
发明(设计)人: | 吴周令;陈坚;吴令奇;黄明 | 申请(专利权)人: | 合肥知常光电科技有限公司 |
主分类号: | G01N21/63 | 分类号: | G01N21/63 |
代理公司: | 合肥天明专利事务所 34115 | 代理人: | 金凯 |
地址: | 230031 安徽省合肥市高新*** | 国省代码: | 安徽;34 |
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摘要: | 本发明公开了一种探测固体材料表面及亚表面光学吸收的方法及装置,该方法及装置通过泵浦光束照射样品来激发固体材料的红外辐射,同时利用泵浦光束所激发的红外辐射在特定波段对一些固体材料穿透深度非常有限的物理特性来获得固体材料表面及亚表面对泵浦光束的光学吸收特性。本发明可以用于光热无损探伤、光热精密检测、固体材料表面及亚表面吸收特性探测等多个领域。 | ||
搜索关键词: | 一种 探测 固体 材料 表面 光学 吸收 方法 装置 | ||
【主权项】:
一种探测固体材料表面及亚表面光学吸收的方法,其特征在于:包括以下步骤:(1)、用泵浦光束照射固体材料的前表面,此泵浦光束入射到固体材料内部并从后表面出射,固体材料的前表面及前亚表面区域、内部区域、后表面及后亚表面都会因为固体材料对泵浦光束能量的吸收而产生局部温度升高并进而产生红外辐射;(2)、固体材料的前表面及前亚表面区域的红外辐射由相对固体材料的前表面设置的红外辐射收集装置收集、并经过红外滤波装置滤波后入射到红外探测装置上探测分析;(3)、固体材料的后表面及后亚表面区域的红外辐射由相对固体材料的后表面设置的红外辐射收集装置收集、并经过红外滤波装置滤波后入射到红外探测装置上探测分析。
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