[发明专利]功能测试治具、系统及方法有效

专利信息
申请号: 201310016951.3 申请日: 2013-01-17
公开(公告)号: CN103941170A 公开(公告)日: 2014-07-23
发明(设计)人: 蔡苏威;王伟仁 申请(专利权)人: 德律科技股份有限公司
主分类号: G01R31/26 分类号: G01R31/26
代理公司: 北京中誉威圣知识产权代理有限公司 11279 代理人: 董云海;彭晓玲
地址: 中国台湾台北*** 国省代码: 中国台湾;71
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摘要: 一种功能测试治具、系统及方法,所述功能测试治具,包含:介面模块以及测试控制模块。介面模块与待测模块相连接。测试控制模块控制介面模块,并与待测模块的自我测试单元通过介面模块沟通,以控制待测模块启动进行测试流程,并判断待测模块位于被动测试模式或主动测试模式。当待测模块位于被动测试模式时,测试控制模块传送至少一测试指令至自我测试单元进行测试。当待测模块位于主动测试模式时,测试控制模块被动地接收自我测试单元传送的控制指令及/或测试结果,以根据控制指令控制介面模块对待测模块进行测试及/或根据测试结果进行分析。
搜索关键词: 功能 测试 系统 方法
【主权项】:
一种功能测试治具,包含:介面模块,用以与待测模块相连接;以及测试控制模块,用以控制该介面模块,并与该待测模块的自我测试单元通过该介面模块沟通,以控制该待测模块启动进行测试流程,并判断该待测模块位于被动测试模式或主动测试模式;当该待测模块位于该被动测试模式时,该测试控制模块传送至少一测试指令至该自我测试单元进行测试;当该待测模块位于该主动测试模式时,该测试控制模块被动地接收该自我测试单元传送的控制指令及/或测试结果,以根据该控制指令控制该介面模块对该待测模块进行测试及/或根据该测试结果进行分析。
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