[发明专利]用于控制物体质量的系统和方法

摘要

本发明涉及一种用于控制生产设备出口的物体的质量的系统。根据本发明，该系统包括：室，其包括将待检查物体引入该室中所通过的入口和至少一个出口，所述室具有检查区域（5）；运输装置，其用于将所述待检查物体输送到所述检查区域（5）中并且确保其通过所述至少一个出口而被排出；称量装置（7），其用于称量所述检查区域（5）中的所述物体；用于无接触地测量所述检查区域（5）中的所述物体的尺寸的组件；和用于通过激光束和/或X射线而分析所述检查区域（5）中的所述物体的结构的组件。所述室是以分别对于工作中的激光束波长、和对于X射线和工作中的所述激光束的波长而言不透明的材料来被实现的，以预防任何的辐射泄漏。

主权项

1.一种用于控制物体的质量的系统，其特征在于，包括：‑安全室(3)，其包括将待检查的所述物体引入所述室中所通过的入口和至少一个出口，所述室具有检查区域(5)；‑运输装置，其用于将待检查的所述物体输送到所述检查区域(5)中并且确保该物体通过所述至少一个出口而被排出；‑称量装置(7)，其被置于所述运输装置之下，用于称量所述检查区域(5)中的所述物体；‑用于无接触地测量所述检查区域(5)中的所述物体的尺寸的组件，其包括用于通过光图案投影并由立体视觉系统(8，9)检测来进行测量的组件；‑用于通过激光束分析所述检查区域(5)中的所述物体的结构的组件；并且‑所述安全室(3)是以分别对于工作中的所述激光束的波长而言不透明的材料来被实现的，以预防任何的辐射泄漏，其中，用于分析所述检查区域(5)中的所述物体的结构的所述组件包括：‑第一激光源(10)，其用于生成第一激光束用以在所述待检查物体中产生超声波，‑第二激光源(11)，其用于生成第二激光束用以对待检查的所述物体进行照明；‑干涉仪(12)，其用于测量由待检查的所述物体反射的第二激光束的一部分，其中所述干涉仪(12)能够生成与该测量相关的电信号；‑所述激光源(10，11)和所述干涉仪(12)光耦合到被置于所述室(3)中的光测量头(13)，所述测量头(13)包括光扫描器,并且其中，所述称量装置(7)响应于所述物体的称量而发送信号，用于无接触地测量所述物体的尺寸的所述组件发送用于所述物体的尺寸测量的信号，以及用于分析所述物体的结构的所述组件发送与所述物体的结构分析测量相关的信号，所述系统包括连接到记录介质的中央单元，所述记录介质包括被预先记录在所述记录介质上用以定义所述物体的参考参数的至少一个信息文件，所述中央单元接收所述信号中的每一个以将所述信号与所述参考参数进行比较。