[实用新型]一种便于晶体片调节测试定位装置有效
| 申请号： | 201220746604.7 | 申请日： | 2012-12-29 |
| 公开（公告）号： | CN203083553U | 公开（公告）日： | 2013-07-24 |
| 发明（设计）人： | 卢玉席 | 申请（专利权）人： | 铜陵市方远电子科技有限公司 |
| 主分类号： | G01B21/22 | 分类号： | G01B21/22 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 244000 安徽省铜陵*** | 国省代码： | 安徽;34 |
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| 摘要： | 本实用新型公开了一种便于晶体片调节测试定位装置，包括固定底座、调节工作台和吸附装置，调节工作台设置于固定底座上，调节工作台，由一固定块和与其配合的滑动块构成，滑动块内侧面具有齿槽，固定块上设有与齿槽配合的齿轮轴，吸附装置设置于滑动块上端外侧。本实用新型解决了现有晶片检测装置操作不方便的问题，设计简单，结构合理，通过将检测调节结构通过滑动块和固定块配合设置，固定块与滑动块之间移动通过调节齿轮啮合，调节方便，同时调节高度便于控制。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 便于 晶体 调节 测试 定位 装置 | ||
【主权项】：
一种便于晶体片调节测试定位装置，包括固定底座、调节工作台和吸附装置，其特征在于：所述的调节工作台设置于固定底座上，所述的调节工作台，由一固定块和与其配合的滑动块构成，滑动块内侧面具有齿槽，固定块上设有与齿槽配合的齿轮轴，吸附装置设置于滑动块上端外侧。
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